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中國集成電路測試設備市場(chǎng)概況及預測

　　李?丹?（賽迪顧問(wèn)?集成電路產(chǎn)業(yè)研究中心，北京?100048）　　摘?要：在國內集成電路制造領(lǐng)域多個(gè)生產(chǎn)線(xiàn)項目的新建或擴產(chǎn)帶動(dòng)下，設備需求量快速增長(cháng)，國家出臺多項稅收優(yōu)惠政策，國產(chǎn)集成電路設備企業(yè)迎來(lái)政策紅利，進(jìn)口替代是國內半導體設備公司面臨的重大機遇和挑戰?！　￡P(guān)鍵詞：集成電路；測試設備；進(jìn)口替代；政策紅利；泰瑞達　　在市場(chǎng)拉動(dòng)和政策支持下，我國集成電路產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展，整體實(shí)力顯著(zhù)提升，集成電路的設計、制造能力與國際先進(jìn)水平差距不斷縮小，封裝測試技術(shù)逐步接近國際先進(jìn)水平，部分關(guān)鍵裝備和材料被國內外生產(chǎn)
關(guān)鍵字： 201910 集成電路測試設備進(jìn)口替代政策紅利泰瑞達

某型導彈測試設備控制總線(xiàn)為通用的ISA總線(xiàn)，而通信接口總線(xiàn)為非標準的MMи總線(xiàn)。在此以FPGA為核心設計了一種ISA總線(xiàn)／MMи總線(xiàn)轉換電路，該電路可以完成2種制式的數據和控制指令轉換。給出了轉換電路原理框圖、FPGA配置電路和地址比較電路原理圖。實(shí)驗結果表明該電路具有轉換數據準確，工作可靠等優(yōu)點(diǎn)。實(shí)際應用表明，該電路完全能達到測試設備的要求。
關(guān)鍵字： MMи總線(xiàn) 測試設備 FPGA

通過(guò)對FC子卡測試需求的分析，文章提出了一種基于PCIE接口的多FC子卡測試設備的設計方法。主要采用PCIE交換進(jìn)行總線(xiàn)擴展，最后經(jīng)過(guò)實(shí)現和驗證，結果顯示該設計可以很好的滿(mǎn)足測試和試驗要求，并且該設計通用性好，通過(guò)對該設計的升級改進(jìn)，可以適用更多的PCI／PCIE設備，具有一定的實(shí)用意義。
關(guān)鍵字： FC子卡 PCIE交換測試設備

為鼓勵參賽選手盡快調試出參賽作品，經(jīng)大賽組委會(huì )商討，參賽選手可免費使用北京時(shí)代民芯科技有限公司的一些自有測試設備(見(jiàn)附件清單)進(jìn)行參賽作品調試。
關(guān)鍵字：時(shí)代民芯測試設備

　　測試設備大廠(chǎng)愛(ài)德萬(wàn)測試(Advantest)臺灣總經(jīng)理吳慶桓表示，明年(2014)全球各區域經(jīng)濟體可持續成長(cháng);預估明年第2季半導體景氣可向上回溫。　　愛(ài)德萬(wàn)測試在臺北舉辦產(chǎn)品發(fā)表記者會(huì )，吳慶桓表示，明年全球各區域經(jīng)濟體可持續成長(cháng)，有助推動(dòng)電子產(chǎn)品銷(xiāo)售成長(cháng)。　　觀(guān)察近期全球半導體產(chǎn)業(yè)走勢，吳慶桓表示，從6月開(kāi)始感受半導體產(chǎn)能利用率下調，預估修正期間將延續到明年年初，明年第2季稼動(dòng)率動(dòng)能可向上回溫。　　展望明年測試設備資本支出，吳慶桓表示，明年電子產(chǎn)業(yè)測試設備整體資本支出狀況，可能會(huì )較今年持平
關(guān)鍵字：愛(ài)德萬(wàn) 測試設備

過(guò)去，TMOEM設計的儀器都是根據某種標準完成測試過(guò)程。這樣，當一個(gè)新的標準或修訂后的標準發(fā)布出來(lái)時(shí)，他...
關(guān)鍵字：便攜式測試設備 FPGA

隨著(zhù)HSDPA的面世，人們能夠以快于傳統WCDMA的速度傳輸數據。這主要是通過(guò)一種更加復雜的調制格式和重復發(fā)送數據的步驟實(shí)現的。這些新的功能也影響到了相應的測試設備和測試方法，本文介紹了HSDPA與傳統WCDMA的區別，
關(guān)鍵字： HSDPA 下行鏈路分組測試設備

電子封裝是一個(gè)富于挑戰、引人入勝的領(lǐng)域。它是集成電路芯片生產(chǎn)完成后不可缺少的一道工序，是器件到系統的橋梁。封裝這一生產(chǎn)環(huán)節對微電子產(chǎn)品的質(zhì)量和競爭力都有極大的影響。按目前國際上流行的看法認為，在微電子
關(guān)鍵字：集成電路封裝測試設備器件

Abstract: An earlier application note, Coherent Sampling vs. Window Sampling, covered the basics o ...
關(guān)鍵字：測試音測試設備高速ADC 正弦波

Author(s):R. Lauricella - Fiar S.p.A.A. Pozzi - Fiar S.p.A.Industry:Government/Defense, ATE/InstrumentationProducts:Data Acquisition, Instrument Connectivity, SoftwareThe Challenge:在無(wú)需操作員在場(chǎng)并在
關(guān)鍵字：雷達測試測試設備自動(dòng)化