放電電阻 文章 進(jìn)入放電電阻技術(shù)社區

開(kāi)關(guān)電源芯片的失效分析與可靠性研究

• 摘要：隨著(zhù)科技的飛速發(fā)展，電器設備的使用越來(lái)越廣泛，功能也越來(lái)越強大，體積也越來(lái)越小，導致了對 電源模塊要求在不斷增加。開(kāi)關(guān)芯片在應用中失效，經(jīng)分析為電路設計本身可靠性差，導致開(kāi)關(guān)芯片失效。本 文通過(guò)增加放電與限流貼片電阻，對電路設計優(yōu)化更改，使電路工作可靠性明顯提高，滿(mǎn)足電路設計需求，改善后應用失效大幅度減低。關(guān)鍵詞：弱電端短路；過(guò)電損傷；放電電阻；限流電阻；可靠性0 引言?現代電子設備對電源模塊的工作效率、體積以及安 全要求等技術(shù)性能指標要求越來(lái)越高，開(kāi)關(guān)電源電路憑 借良好的性能在電
• 關(guān)鍵字： 202208  弱電端短路  過(guò)電損傷  放電電阻  限流電阻  可靠性