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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 技術(shù)簡(jiǎn)介

個(gè)人健康無(wú)線(xiàn)監測技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 個(gè)人健康無(wú)線(xiàn)監測技術(shù)簡(jiǎn)介,便攜式醫療電子設備,將使一切變得皆有可能:當心臟病患者開(kāi)始出現心臟房顫的危急關(guān)頭,可迅速使用便攜式自動(dòng)除顫器,在緩解病情的同時(shí),該機器還能記錄下發(fā)病時(shí)的心電圖,并通過(guò)網(wǎng)絡(luò )在第一時(shí)間傳給主治醫生;在赴宴
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電接枝技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 3D-IC設計者希望制作出高深寬比(HAR>10:1)硅通孔(TSV),從而設計出更小尺寸的通孔,以減小TSV通孔群在硅片上的占用空間,最終改進(jìn)信號的完整性。事實(shí)上,當前傳統的TSV生產(chǎn)供應鏈已落后于ITRS對其的預測。以干法和濕
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地下管線(xiàn)探測技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 1、地下管線(xiàn)探測技術(shù)簡(jiǎn)介  地下管線(xiàn)探測技術(shù)已應用多年。早在第二次世界大戰末,人們?yōu)榱藢ふ覒馉庍z留的地雷和其他未爆炸物而試圖將物探技術(shù)應用于實(shí)際,但當時(shí)只有一些常規物探方法,由于分辨率低、抗干擾能力差
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數字化超聲探傷儀原理及UT檢測技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 1 引 言

    UT檢測技術(shù)作為工業(yè)上5大常規無(wú)損檢測技術(shù)之一,一直被人們廣泛地使用。在UT中長(cháng)期使用的是A型脈沖反射式超聲波探傷儀,其電路方框圖如圖1所示。


    此種儀器顯示器顯示的是電脈沖信號,探傷人員要從這
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強流脈沖發(fā)生器技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 合肥光源滿(mǎn)能量注入系統升級所需沖擊磁鐵設計參數分別為注入束流能量800 MeV;偏轉角度6.895 mrad;峰值磁感應強度0.096 T;電感0.5H;峰值電流3 100 A;脈沖波形底寬800 ns~3.5us。依據該設計參數對下面幾種脈
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靈活LTE測試技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 長(cháng)期演進(jìn)(LTE)無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )給測試設備供應商提出了若干挑戰。3GPP定義的LTE空中接口,在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù),在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù),且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線(xiàn)配置以最大
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鎖相放大器技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 1.結構電路圖
    2.原理
    鎖相放大器實(shí)際上是一個(gè)模擬的傅立葉變換器,鎖相放大器的輸出是一個(gè)直流電壓,正比于是輸入信號中某一特定頻率(參數輸入頻率)的信號幅值。而輸入信號中的其他頻率成分將不能對輸出電壓
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光電PCB技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 一、引言隨著(zhù)多媒體業(yè)務(wù),包括電話(huà),有線(xiàn)電視(CATV),數字電視和Internet的快速和全面發(fā)展,對電路帶寬和容量的要求急劇增加。在傳統的電學(xué)領(lǐng)域,信號的傳輸和開(kāi)關(guān)的速度已經(jīng)受到限制。以電子計算機為例,其CPU的主
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三種XDSL技術(shù)的調制方式及應用技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 隨著(zhù)Internet的飛速發(fā)展,通信技術(shù)正在經(jīng)歷一場(chǎng)巨大變革,由于入網(wǎng)用戶(hù)數迅速增加;接入網(wǎng)作為通信網(wǎng)中與末端用戶(hù)相連的網(wǎng)絡(luò ),已成為網(wǎng)絡(luò )技術(shù)中的一大熱點(diǎn)。 當前主要的接入技術(shù)有混合光纖/同軸(HFC)接入技術(shù)、光纖接入技術(shù)、銅線(xiàn)接入技術(shù)和無(wú)線(xiàn)接入技術(shù)。其中銅線(xiàn)接入以現有電話(huà)線(xiàn)為傳輸媒體,利用先進(jìn)的數字信號處理技術(shù)及調制解調枯術(shù)提高傳輸諫率和距離。主要有HDSL(高速數字用戶(hù)環(huán)路)、ADSL(非對稱(chēng)數字用戶(hù)環(huán)路)和VDSL (超高速數字用戶(hù)環(huán)路)。使用XDSL 技術(shù)的雙絞銅線(xiàn)配置了分離音
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SiP設計:優(yōu)勢與挑戰并行

  • 隨著(zhù)SoC開(kāi)發(fā)成本的不斷增加,以及在SoC中實(shí)現多種功能整合的復雜性,很多無(wú)線(xiàn)、消費類(lèi)電子的IC設計公司和系統公司開(kāi)始采用“系統級封裝”(SiP)設計以獲得競爭優(yōu)勢。一方面是因為小型化、高性能、多用途產(chǎn)品的技術(shù)挑戰,另一方面是因為變幻莫測的市場(chǎng)競爭。他們努力地節約生產(chǎn)成本的每一分錢(qián)以及花在設計上的每一個(gè)小時(shí)。相比SoC,SiP設計在多個(gè)方面都提供了明顯的優(yōu)勢。  SiP獨特的優(yōu)勢  SiP的優(yōu)勢不僅在于尺寸方面,SiP能夠在更小的占用空間里提供更多的功能,并降低了開(kāi)發(fā)成本和縮短了設計周
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SIP和SOC

  •  繆彩琴1,翁壽松2  (1.江蘇無(wú)錫機電高等職業(yè)技術(shù)學(xué)校,江蘇 無(wú)錫 214028;2.無(wú)錫市羅特電子有限公司,江蘇 無(wú)錫 214001)  摘 要:本文介紹了SIP和SOC的定義、優(yōu)缺點(diǎn)和相互關(guān)系。SIP是當前最先進(jìn)的IC封裝,MCP和SCSP是實(shí)現SIP最有前途的方法。同時(shí)還介紹了MCP和SCSP的最新發(fā)展動(dòng)態(tài)。 關(guān)鍵詞:系統級封裝,系統級芯片,多芯片封裝,疊層芯片尺寸封裝 中圖分類(lèi)號:TN305.94文獻標識碼:A文章
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SiP封裝技術(shù)簡(jiǎn)介

  • 電子工程的發(fā)展方向,是由一個(gè)「組件」(如IC)的開(kāi)發(fā),進(jìn)入到集結「多個(gè)組件」(如多個(gè)IC組合成系統)的階段,再隨著(zhù)產(chǎn)品效能與輕薄短小的需求帶動(dòng)下,邁向「整合」的階段。在此發(fā)展方向的引導下,便形成了現今電子產(chǎn)業(yè)上相關(guān)的兩大主流:系統單芯片(System?on?Chip;SoC)與系統化封裝(System?in?a?Package;SiP)。 由發(fā)展的精神來(lái)看,SoC與SiP是極為相似的;兩者均希望將一個(gè)包含邏輯組件、內存組件,甚至包含被動(dòng)組件的「系統」,整合
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技術(shù)簡(jiǎn)介介紹

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