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集成電路測試機的挑戰與趨勢

- 迎?九?(《電子產(chǎn)品世界》編輯,北京?100036) 摘?要:介紹了集成電路測試機(ATE)面臨的挑戰與解決方案?! £P(guān)鍵詞:集成電路;測試;微調;trim 集成電路自動(dòng)測試設備(ATE,測試機)是檢測芯片功能和性能的專(zhuān)用設備,據SEMI預測,2019年中國測試機占據后道檢測設備62.8%的份額 [1] 。ATE測試的趨勢是什么?電子產(chǎn)品世界記者訪(fǎng)問(wèn)了泰瑞達業(yè)務(wù)戰略總監翟朝艷(Natalian Der)女士?! ? 芯片測試的新挑戰 當今的半導體公司可謂重任在肩:需要在芯片上整合多種功能,有高性
- 關(guān)鍵字: 202001 集成電路 測試 微調 trim
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