EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
并行測試fpga激勵信
并行測試fpga激勵信 文章 進(jìn)入并行測試fpga激勵信技術(shù)社區
FPGA的并行多通道激勵信號產(chǎn)生拈

- 引言并行測試的實(shí)現途徑分為軟件方式和硬件方式。用軟件方式實(shí)現并行測試,關(guān)鍵是對測試任務(wù)的分解和調度,但可能會(huì )產(chǎn)生競爭或者死鎖現象。因此,在測試資源有限并且任務(wù)分解和調度算法不成熟的情況下,用軟件實(shí)現并行測試...
- 關(guān)鍵字: 并行測試FPGA激勵信
共1條 1/1 1 |
并行測試fpga激勵信介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條并行測試fpga激勵信!
歡迎您創(chuàng )建該詞條,闡述對并行測試fpga激勵信的理解,并與今后在此搜索并行測試fpga激勵信的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條,闡述對并行測試fpga激勵信的理解,并與今后在此搜索并行測試fpga激勵信的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
