EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
封裝測試頭
封裝測試頭 文章 進(jìn)入封裝測試頭技術(shù)社區
史密斯英特康推出晶圓級封裝測試頭Volta 200 系列
- 便攜式及手持智能電子設備的小型化對芯片功能集成的要求日益復雜,芯片的微型化及引腳間距越來(lái)越小給產(chǎn)品的最終測試帶來(lái)了技術(shù)挑戰和成本壓力,也讓越來(lái)越多的客戶(hù)采用晶圓級封裝測試和晶圓級芯片封裝測試的方案。史密斯英特康推出的Volta系列測試頭適用于200μm間距及以上晶圓級封裝測試,為高可靠性WLP(晶圓級封裝)、WLCSP(晶圓級芯片封裝)和KGD(已確認的好的裸片)測試提供更多優(yōu)勢,可滿(mǎn)足客戶(hù)對更高引腳數、更小間距尺寸、更高頻率和更高并行度測試的要求。Volta獨特的設計具有極短的信號路徑,低接觸電阻,可實(shí)
- 關(guān)鍵字： 晶圓級 封裝測試頭 Volta 200 系列
| 共1條 1/1 1 |
封裝測試頭介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條封裝測試頭!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對封裝測試頭的理解，并與今后在此搜索封裝測試頭的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對封裝測試頭的理解，并與今后在此搜索封裝測試頭的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473