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實(shí)時(shí)測試
實(shí)時(shí)測試 文章 進(jìn)入實(shí)時(shí)測試技術(shù)社區
汽車(chē)實(shí)時(shí)測試的演變
- 實(shí)時(shí)測試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現測試應用,主要用于幫助測試系統獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)...
- 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)測試 閉環(huán)控制 自動(dòng)操縱
實(shí)時(shí)測試技術(shù)簡(jiǎn)介以及其演變過(guò)程
- 實(shí)時(shí)測試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現測試應用,主要用于幫助測試系統獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)測試技術(shù)在許多產(chǎn)品和系統的開(kāi)發(fā)過(guò)程中扮演者重要的角色。比如對耐用性,使用壽命有要求以及其它一些需要
- 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)測試 技術(shù)簡(jiǎn)介 過(guò)程
無(wú)線(xiàn)ATM信元傳送性能的實(shí)時(shí)測試
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
- 關(guān)鍵字: 無(wú)線(xiàn)ATM信元 傳送性能 實(shí)時(shí)測試 ATM交換機
Launch-off-shift實(shí)時(shí)測試
- 通過(guò)全面跳變樣本(broadside-transition-pattern)和launch-off-shift技術(shù)的比較,表明后者可以用于測試9...
- 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)測試 全面跳變樣本 無(wú)線(xiàn)基帶
實(shí)時(shí)測試技術(shù)的演變進(jìn)程
- 實(shí)時(shí)測試技術(shù)涉及到使用實(shí)時(shí)環(huán)境來(lái)實(shí)現測試應用,它主要用于在測試系統中實(shí)現更高的可靠性和/或確定性。因此,它們在現今的許多產(chǎn)品和系統的開(kāi)發(fā)中都發(fā)揮著(zhù)重要的作用。
- 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)測試 進(jìn)程
實(shí)時(shí)測試的演變

- 實(shí)時(shí)測試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現測試應用,主要用于幫助測試系統獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)測試技術(shù)在許多產(chǎn)品和系統的開(kāi)發(fā)過(guò)程中扮演者重要的角色。比如對耐用性,使用壽命有要求以及其它一些需要長(cháng)期持續運行或者需要在無(wú)人值班的情況下運行的測試系統,這些系統要求實(shí)時(shí)執行平臺提供卓越的可靠性。需要使用實(shí)時(shí)測試技術(shù)的例子還包括環(huán)境試驗單元,測功機,硬件在環(huán)(HIL)仿真器以及其他類(lèi)似的執行閉環(huán)控制的測試系統,這些系統要求實(shí)時(shí)執行平臺具有低抖動(dòng)確定性。通過(guò)研究幾個(gè)實(shí)時(shí)測試(RTT)的應用,我們可以看到
- 關(guān)鍵字: NI 實(shí)時(shí)測試
實(shí)時(shí)測試的演變發(fā)展

- 實(shí)時(shí)測試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現測試應用,主要用于幫助測試系統獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)測試技術(shù)在許多產(chǎn)品和系統的開(kāi)發(fā)過(guò)程中扮演者重要的角色。比如對耐用性,使用壽命有要求以及其它一些需要長(cháng)期持續運行或者需要在無(wú)人值班的情況下運行的測試系統,這些系統要求實(shí)時(shí)執行平臺提供卓越的可靠性。需要使用實(shí)時(shí)測試技術(shù)的例子還包括環(huán)境試驗單元,測功機,硬件在環(huán)(HIL)仿真器以及其他類(lèi)似的執行閉環(huán)控制的測試系統,這些系統要求實(shí)時(shí)執行平臺具有低抖動(dòng)確定性。
- 關(guān)鍵字: NI 實(shí)時(shí)測試
基于模型設計的嵌入式測試系統開(kāi)發(fā)
- 關(guān)鍵字: 嵌入式設計 實(shí)時(shí)測試 復用
MathWorks 宣布推出 xPC Target Turnkey
- MathWorks 今天宣布推出 xPC Target Turnkey,這是使用 Simulink 進(jìn)行快速控制原型和硬件在環(huán) (HIL) 仿真的組裝完備的實(shí)時(shí)測試解決方案。xPC Target Turnkey 將 MathWorks 的 xPC Target 與 Speedgoat GmbH 提供的實(shí)時(shí)目標機和 I/O 模塊相結合,組成完整的實(shí)時(shí)測試解決方案。 配置實(shí)時(shí)測試系統涉及評估軟件平臺、硬件技術(shù)、選件以及項目需求的全過(guò)程,這一過(guò)程會(huì )耗費大量時(shí)間和資源。xPC Target Turnke
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實(shí)時(shí)測試介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條實(shí)時(shí)測試!
歡迎您創(chuàng )建該詞條,闡述對實(shí)時(shí)測試的理解,并與今后在此搜索實(shí)時(shí)測試的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
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