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存儲器測試
存儲器測試 文章 進(jìn)入存儲器測試技術(shù)社區
惠瑞捷增加并行機制以縮減存儲器測試開(kāi)發(fā)時(shí)間
- 惠瑞捷半導體科技宣布將可編程接口矩陣應用于Verigy V5000e 工程工作站，以幫助存儲器制造商在應用V5000e進(jìn)行工程，測試開(kāi)發(fā)和調試時(shí)獲得并行測試能力。憑借該矩陣，V5000e 可以并行測試12顆芯片（DUT），減少產(chǎn)線(xiàn)上的操作人員的時(shí)間，同時(shí)大幅度提高了總產(chǎn)能。此矩陣還將V5000e的引腳數量從128提高到768個(gè)測試器資源引腳，從而能夠測量具有更高引腳數量的多種類(lèi)型存儲器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。 由于產(chǎn)品壽命
- 關(guān)鍵字： 并行機制 測量 測試 存儲器測試 單片機 惠瑞捷 開(kāi)發(fā)時(shí)間 嵌入式系統 存儲器
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存儲器測試介紹
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