EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
在片器件測試
在片器件測試 文章 進(jìn)入在片器件測試技術(shù)社區
羅德與施瓦茨發(fā)布在片器件測試解決方案
- 羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測試解決方案，該方案結合了羅德與施瓦茨強大的R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀和FormFactor先進(jìn)的工程探針臺系統。半導體制造商可以在產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)、認證和生產(chǎn)階段執行可靠且可重復的在片器件特性測試。 整個(gè)在片測量工作由R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀與FormFactor SUMMIT200探針臺系統一起完成。5G 射頻前端設計師需要確保適當的器件輸出功率和射頻帶寬，同時(shí)兼顧優(yōu)化器件效率。設計流程中的一個(gè)重要階段是驗證射頻設計，盡早獲得相關(guān)設
- 關(guān)鍵字： 羅德與施瓦茨 在片器件測試
| 共1條 1/1 1 |
在片器件測試介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條在片器件測試!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對在片器件測試的理解，并與今后在此搜索在片器件測試的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對在片器件測試的理解，并與今后在此搜索在片器件測試的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473