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半導體高速檢測裝置
半導體高速檢測裝置 文章 進(jìn)入半導體高速檢測裝置技術(shù)社區
日本電產(chǎn)理德推出半導體高速檢測裝置“NATS-1000”
- 日本電產(chǎn)理德株式會(huì )社推出了全自動(dòng)在線(xiàn)半導體檢測裝置“NATS-1000”，用于汽車(chē)級IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor :絕緣柵雙極晶體管）/SiC（Silicon Carbide：碳化硅）模塊的功能測試。 1. 開(kāi)發(fā)的背景及特征近年來(lái)，對車(chē)用功率器件（半導體元件）的需求迅速增長(cháng)。日本電產(chǎn)理德的“NATS-1000”最初是在母公司日本電產(chǎn)株式會(huì )社（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“日本電產(chǎn)”）的集團公司進(jìn)行自制化，從重視可追溯性的汽車(chē)廠(chǎng)商的角度出發(fā)，為了優(yōu)化成本、品
- 關(guān)鍵字： 日本電產(chǎn)理德 半導體高速檢測裝置
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半導體高速檢測裝置介紹
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