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半導體器件探測
半導體器件探測 文章 進(jìn)入半導體器件探測技術(shù)社區
吉時(shí)利發(fā)布用于半導體器件探測和特征分析設備的混合信號互連解決方案
- 先進(jìn)電氣測試儀器與系統的世界級領(lǐng)導者吉時(shí)利儀器公司，日前發(fā)布測試界第一個(gè)利用一套線(xiàn)纜即可處理I-V、C-V和脈沖I-V信號的互連解決方案(正申請專(zhuān)利)。本款最新布線(xiàn)套件基于專(zhuān)利型設計，能大大加快并簡(jiǎn)化從任意先進(jìn)半導體參數分析儀到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探測器進(jìn)行直流電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和脈沖I-V測試互連的過(guò)程?；ミB線(xiàn)的設計與吉時(shí)利4200-SCS半導體特征分析系統以及其他一些用于特征分析的測試儀器兼容。 該高性能三同軸線(xiàn)纜套件的設計非
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 半導體器件探測
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半導體器件探測介紹
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