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測試轉臺測控系統電磁兼容性設計
- 1 概述 測試轉臺測控系統不可能工作在絕對理想的環(huán)境下，因此它必然受到各種環(huán)境因素的影響。這些影響包括：(1)外部環(huán)境對測試設備的影響;(2)測試設備電子線(xiàn)路內部各元器件之間的相互干擾。外界環(huán)境干擾包括外界電磁場(chǎng)、電網(wǎng)波動(dòng)等，而電子線(xiàn)路之間的互相干擾則主要是通過(guò)公共阻抗、線(xiàn)間分布電容及互感而相互影響。測試設備電子線(xiàn)路不僅受到外界環(huán)境的影響，同時(shí)它也會(huì )向外界發(fā)射電磁波，給電網(wǎng)回饋波動(dòng)，這種效應會(huì )對其它電子設備造成干擾。因此其電磁兼容是研究該設備既不受周?chē)h(huán)境的影響，又不給周?chē)h(huán)境以這種影響的一門(mén)技
- 關(guān)鍵字： 電磁 兼容 測控系統
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