基于A(yíng)RM的2M測試系統

　　根據測試系統功能的要求, 在程序中定義了2個(gè)數據結構,一個(gè)是用來(lái)存放程序中需要用到的各種測試設置值的數據結構SetUp_struct；另一個(gè)是用于存放測試結果的數據結構Data_struct。這兩個(gè)數據結構是連接各個(gè)功能函數的橋梁，通過(guò)判斷SetUp_struct中各個(gè)變量的值可以使程序做出相應的操作，并改變相應Data_struct值，從而實(shí)現在不同的測試環(huán)境下對不同指標的測試。

　　3.3 2M測試系統測試指標的測量與計算

　　2M測試系統設計所能達到的測試指標如下：

　　(1)、在線(xiàn)和中斷業(yè)務(wù)測試，可選接口阻抗：75Ω、120Ω、高阻（≥2KΩ）。

　　(2)、統計分析功能： G.826測試分析誤塊秒、嚴重誤塊秒、背景誤塊、不可用秒、誤塊秒率、嚴重誤塊秒率、背景誤塊率；G.821測試分析誤碼秒、嚴重誤碼秒、 不可用秒；M.2100測試分析誤碼秒、嚴重誤碼秒、不可用秒。

　　(3)、差錯（誤碼、誤塊）監測比特誤碼、編碼誤碼、幀字差錯、CRC差錯。

　　(4)、告警監測。

　　(5)、同時(shí)顯示幀開(kāi)銷(xiāo)及30個(gè)話(huà)路數字型線(xiàn)路信號（a.b.c.d）的狀態(tài)。

　　(6)、話(huà)音監聽(tīng)，各話(huà)音時(shí)隙可選。

　　(7)、測試結果掉電可記憶，可上傳微機。

　　上述各項指標的測量由檢測模塊和語(yǔ)音監聽(tīng)模塊實(shí)現, 指標的(3)、(4)項可通過(guò)對ds21354和ds21372的相關(guān)寄存器的設置和對線(xiàn)路狀態(tài)寄存器的讀取并對數據簡(jiǎn)單處理可實(shí)現。指標的(5)、(6)項可通過(guò)對時(shí)隙交換電路相關(guān)寄存器的設置和讀取對數據簡(jiǎn)單處理實(shí)現。第(2)項的指標參數是統計指標,需要在讀取DS21372寄存器的原始測試數據之后，經(jīng)過(guò)計算得到。統計指標以秒為單位,程序設置了周期為1s的中斷定時(shí)讀取ds21372的寄存器值，調用計算函數計算統計指標。圖3是在G.821分析模式下的統計指標算法流程圖，其余分析模式下與此相似。

　　圖3 G.821分析模式下測試指標計算流程圖

　　4 結束語(yǔ)

　　2M 測試系統在我國電信、網(wǎng)絡(luò )相關(guān)領(lǐng)域具有廣泛的應用價(jià)值。本文介紹的基于ARM的2M測試系統具有體積小、功耗低、功能豐富等優(yōu)點(diǎn)，特別是能夠語(yǔ)音監聽(tīng)，并且各時(shí)隙可選，能夠滿(mǎn)足對2M口性能的測試和分析。ARM處理器以其高性?xún)r(jià)比，在嵌入式系統領(lǐng)域得到了廣泛應用。

　　本文作者創(chuàng )新點(diǎn):在2M測試系統中采用時(shí)隙交換芯片與語(yǔ)音檢測芯片組合成語(yǔ)音在線(xiàn)監聽(tīng)模塊，能實(shí)現任一時(shí)隙的語(yǔ)音監聽(tīng)，以及任一時(shí)隙的線(xiàn)路信號狀態(tài)檢測，能更好的幫助工程技術(shù)人員對2M線(xiàn)路的測試和維護。

　　參考文獻：

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