過(guò)電壓輸出保護電路

為放大器輸出增加晶體繼電器和控制電路，提供過(guò)電壓保護。 

　　在測試測量應用中，必須為放大器輸出終端、能量供給和類(lèi)似元器件提供過(guò)電壓保護。實(shí)現這個(gè)任務(wù)的傳統方法是與鉗位二極管一起，在輸出節點(diǎn)到電源軌或其他門(mén)限電壓之間，增加串聯(lián)電阻（參考文獻1和圖1）。電阻顯著(zhù)減小了輸出電流能力和電壓輸出隨低電阻負載的波動(dòng)。另一個(gè)方法是使用保險絲或其他限流設備，它們比二極管具有更高的能量吸收能力。圖2中電路為雙極電流源，當源電阻R6上壓降增加到大于耗盡型MOSFET Q1和Q2的門(mén)限電壓時(shí)，通過(guò)二極管限流（參考文獻2）。這個(gè)方法的缺點(diǎn)是過(guò)載情況下，串聯(lián)器件上能量耗散高。

　　輸出終端出現過(guò)載電壓時(shí)，合理的方法是將放大器輸出節點(diǎn)與輸出終端分離一段時(shí)間。依靠音頻功率放大器中的機電繼電器，有經(jīng)驗的工程師已使用這種串聯(lián)分離，但出于不同原因：擴音器保護。SSR（固體繼電器）包括optoelectronic、photovoltaic、OptoMOS和PhotoMOS設備，由于控制和負載管腳之間的電隔離，在適度電流水平上滿(mǎn)足負載分離任務(wù)（參考文獻3）。

　　圖3的串聯(lián)保護電路，使用串聯(lián)高壓SSR分離放大器輸出終端。輸出電壓增加到正參考電壓限以上或降到負參考電壓限以下，通過(guò)AND邏輯器件IC5，引起IC2或IC3比較器改變其輸出狀態(tài)，并關(guān)閉SSR IC4。圖4顯示實(shí)現這個(gè)方法的簡(jiǎn)單電路。

　　圖4電路只需要一對外部器件，用SSR實(shí)現輸出過(guò)電壓保護。增加過(guò)電壓關(guān)閉IC2中的電阻，通過(guò)IC3的控制LED中斷電流流動(dòng)。繼電器IC3斷開(kāi)，保護放大器和鉗位二極管。無(wú)論是否存在內部電流保護，電路用Clare、Matsushita Electronic Works和Panasonic SSR測試。供電電源采用