NI中國成功舉辦第二屆“設計、驗證及測試論壇”

美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）于4月在上海國際會(huì )議中心成功主辦第二屆“設計、驗證及測試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主題為“測試緊跟設計的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾500位工程師、技術(shù)人員和院校教師參與此次盛會(huì )，其中97.1%的來(lái)賓表示“此次活動(dòng)對他們的工作有所幫助”，70%將會(huì )推薦他們的同事參加明年的“設計、驗證及測試論壇”。在此次論壇期間，NI提出了若干驅動(dòng)虛擬儀器技術(shù)發(fā)展的主導商業(yè)技術(shù)，并著(zhù)重強調了PCI Express 和FPGA這兩項。

2004年第一屆DVTF由NI和泰克電子（Tektronix）強強聯(lián)手，延承其成功之勢，除了泰克電子以外，今年NI還邀請了英特爾（Intel）、科梁科技（AEETEK）、Quanser、CyboSoft（博軟科技）、泛華測控和聚星儀器等行業(yè)內外相關(guān)領(lǐng)域的多家優(yōu)秀企業(yè)共同參與。

此次論壇分為熱點(diǎn)技術(shù)專(zhuān)題與實(shí)時(shí)應用專(zhuān)題同時(shí)進(jìn)行。NI主持了“利用新興的PAC技術(shù)解決工業(yè)控制面臨的挑戰”、“用LabVIEW開(kāi)發(fā)實(shí)時(shí)系統應用”等5場(chǎng)專(zhuān)題研討會(huì )，Intel 以及其他公司也提供了“Embedded Market Solutions - PCI Express Technology”、“采用高速數字示波器進(jìn)行 PCI Express分析和一致性測試”等講座。此外，每家參展廠(chǎng)商都有各自的展示區域，可以與參觀(guān)者面對面地交流。

前來(lái)參加會(huì )議的來(lái)賓們也表示本次論壇“務(wù)實(shí)求新，提供了新思想、新方路、新手段、新工藝”，“與各大廠(chǎng)商直接接觸，了解到測試及控制領(lǐng)域最新的技術(shù)及發(fā)展趨勢”。

基于兩屆活動(dòng)的成功經(jīng)驗，NI會(huì )在明年繼續舉辦第三屆“設計、驗證及測試論壇”，并有信心將其打造成測試測量行業(yè)內首屈一指的多供應商技術(shù)論壇。