為醫療設備選擇小巧可靠的無(wú)源元件
電阻器選型標準
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/268344.htm標準的薄膜和厚膜表面貼裝電阻器的外殼尺寸在0402~2512之間。電阻器選型標準包括脈沖處理能力、工作電壓、工作溫度及長(cháng)期穩定性。打線(xiàn)式電阻器的尺寸范圍為0.015in×0.015in×0.010in(額定功率為125mW)至0.055in×0.055in×0.010in(最大電阻值為30MΩ;工作電壓為100V)。

薄膜電阻器支持密集的電路布置,同時(shí)可提供高可靠電阻器膜的優(yōu)點(diǎn)。電阻器容限低至0.01%,電阻溫度系數(TCR)低至5ppm,有利于放大器、收發(fā)電路及配電的精確調整。對于醫療應用而言,這些片式電阻器可涵蓋任何標準的電阻值(10Ω~25MΩ)。
高可靠性測試
對醫療設備應用來(lái)說(shuō),避免無(wú)源元件的災難性失效和漂移失效是頭等注意事項。歸根結底,產(chǎn)品可靠性預測是建立在供應商測試數據和醫療設備制造商規定的、在定義時(shí)間范圍內的應用工作溫度的基礎上的。無(wú)源元件供應商的工藝控制是實(shí)現高可靠性的一項重要因素。通過(guò)在額定或更高電壓下抬高溫度,進(jìn)行規定時(shí)長(cháng)的壽命測試,可以確定無(wú)源元件的可靠性,并保證元器件可以用于重要醫療設備應用。無(wú)源元件測試是基于客戶(hù)要求和美國軍用標準(MIL)規范(若適用)進(jìn)行的。
無(wú)源元件的可靠性預測可使用基于MIL-217手冊或IEC863的在線(xiàn)建模程序來(lái)進(jìn)行。以下是供應商可靠性模擬示例

固鉭測試標準基于MIL-PRF-55365.固鉭電容器在抬高的溫度和電壓下經(jīng)歷內部合格性和定期維護試驗。對于關(guān)鍵應用,鉭電容器的設計、制造和試驗是依照可滿(mǎn)足客戶(hù)定制要求的限值來(lái)進(jìn)行的。
下表顯示了基于固鉭電容器韋伯(Weibull)測試的失效率預測。

依照MIL-PRF-55342對電阻器進(jìn)行針對關(guān)鍵醫療應用的合格試驗。電阻器失效分為兩類(lèi):致命失效(例如,電阻器開(kāi)路或短路)和漂移失效(導致電路工作狀況不佳)。
可將試驗得到的電阻器性能與MIL-PRF-55342限值進(jìn)行對比,如下表所示。

定制磁性元件的內可靠性試驗基于MIL-PRF-27標準。所進(jìn)行的試驗包括可焊性、耐溶劑性、端子強度、沖擊和振動(dòng)、防潮性及熱沖擊等。這些試驗詳載于MIL-STD-202和其他ASTM或JEDEC標準中。
總結
借助于小型醫療設備可使手術(shù)更簡(jiǎn)單并降低其侵入性,從而方便醫生操作并減輕患者痛苦。隨著(zhù)更小更新的無(wú)源元件的推出,相應地也需要更好的制造和試驗技術(shù)來(lái)提高元件的質(zhì)量。新型小尺寸無(wú)源元件的供應商可能需要加大設備和自動(dòng)化投入,從而獲得醫療設備制造商要求的工藝能力。依照客戶(hù)要求和行業(yè)標準進(jìn)行合格試驗和可靠性測試是開(kāi)發(fā)過(guò)程的要求。
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