射頻電纜的無(wú)源互調測試
即使假設電纜是無(wú)損耗的,電纜產(chǎn)生的群時(shí)延還是被包含在模型中的,具體如下式:
其中:
k:與頻率有關(guān)的通過(guò)電纜(2p/l)的電磁波數
v:同軸電纜的傳輸速率
L:電纜的長(cháng)度
電纜b端和端口2的互調響應表示為:
當公式中IMa、IM1、IMb、和IM2已知,落在端口2上,總的通過(guò)(前向)互調表達式為:
上式表示同時(shí)落在互調測試設備端口2上的四個(gè)互調響應,不依賴(lài)于互調頻率。假設單獨的互調源是不依賴(lài)于頻率的,且電纜的損耗是一個(gè)常數,那么整條集成電纜的通過(guò)互調響應將不依賴(lài)于頻率。
我們可以采用相似的過(guò)程來(lái)描述反射互調響應。反射互調響應可以由下式來(lái)給出:
Reflected IM at Port ( 1) = IMa + IM1 + H(w)∗(IMb + IM2 )
簡(jiǎn)化為:
上式表示端口1中的反射互調響應是端口1和電纜b端響應的合成,加上由于電纜b端和端口2的互調響應的合成造成的移相響應。由于存在一個(gè)不同相位的互調源的合成向量,所以,我們認為反射互調響應是一個(gè)與電纜的頻率和電長(cháng)度有關(guān)的函數。
五、集成電纜互調響應的測量
為 了驗證該模型,我們使用SI-1900A型無(wú)源互調失真分析儀來(lái)測量無(wú)線(xiàn)通信應用中一種典型的集成跳線(xiàn)。該集成跳線(xiàn)長(cháng)1.5米,廠(chǎng)商標注的速率因子為 82%,兩端分別安裝有一個(gè)DIN-M型接頭。載波功率設置為20W/路。分析儀的自適應邏輯電路確保了測試過(guò)程中,載波的功率變化不超過(guò)0.2dB。分 析儀的底噪不超過(guò)-140dBm,即當施加一個(gè)+43dBm的載波功率時(shí),分析儀的互調底噪不超過(guò)-163dBc。
圖3顯示了反射和通過(guò)互調響應的測量結果曲線(xiàn),以及相應的預測曲線(xiàn)。電纜每個(gè)端口上的互調響應值,是通過(guò)假設前向互調響應是由兩個(gè)分別在電纜兩端的等幅互調源之和組成的。反射互調響應值僅由該模型來(lái)決定,且不用調節使之與測得的數據相匹配。
圖3:集成電纜無(wú)源互調失真的測量結果與預計曲線(xiàn)
如圖3所示,盡管預計數據中的反射互調響應0點(diǎn)的深度值遠遠大于實(shí)際測得的數據,但是總的通過(guò)和反射響應趨勢是符合模型的預計曲線(xiàn)趨勢。這非??赡苁怯捎谀P椭械暮?jiǎn)單假設和電纜實(shí)際性能之間的差別造成的。
1)假設在模型中的互調源是等幅的。但是實(shí)際上,電纜兩端的互調響應可能并不是等幅的。這就導致了模型的互調0點(diǎn)值好于測量所得數據。
2)在這個(gè)簡(jiǎn)單的模型中,假設電纜是無(wú)損耗的,那么,當互調從電纜的一端傳輸到另一端時(shí),將仍然維持原始的振幅。但是實(shí)際測量中,互調從電纜的一端傳輸到另一端時(shí),必將產(chǎn)生損耗,這就會(huì )造成電纜中兩個(gè)互調響應的不一致,從而產(chǎn)生一個(gè)深度較淺的0點(diǎn)值。
3)假設測試設備所產(chǎn)生的互調響應與電纜接頭的互調響應是協(xié)同定位的。在實(shí)際測量中,由于在測試設備的端口1和端口2上使用了接頭保護器(插孔適配器),使得測試設備和電纜接頭之間產(chǎn)生3cm的距離,進(jìn)而大約在測得的0值深度處產(chǎn)生額外的互調響應。
六、結論
在簡(jiǎn)化的無(wú)源互調模型中,電纜的反射互調和通過(guò)互調被準確的預計。而且模型預計和實(shí)際測量所得的結果之間的差異也可以很容易解釋。
負責系統的整體實(shí)現和器件的互調性能的工程師可以通過(guò)這些結果的應用,來(lái)幫助理解現場(chǎng)或實(shí)驗室環(huán)境中的無(wú)源互調測量?;谝陨辖Y果的結論包括:
如果電纜是低損耗的,且電纜每一端產(chǎn)生的互調被認為是基本相似的,那么一般來(lái)說(shuō),測得的通過(guò)互調響應比電纜任一端的響應大6dB,而且通常與頻率無(wú)關(guān)。該響應表現為電纜反射或通過(guò)互調測量中的最大(或接近最大)的互調響應。
如果測量低損耗電纜的反射無(wú)源互調,那么測得的互調值會(huì )隨著(zhù)互調頻率的改變而改變。因此,測量單一頻率的反射互調可能不能真正說(shuō)明整個(gè)系統產(chǎn)生的無(wú)源互調失真的影響。
合理選擇電纜的長(cháng)度可以導致互調源之間的相消干擾,從而產(chǎn)生一個(gè)低的系統互調響應。這個(gè)特性可以用來(lái)選定發(fā)射機架與基站調諧箱面板間跳線(xiàn)的長(cháng)度,實(shí)現頻組分配。
當長(cháng)電纜的一端產(chǎn)生的大互調響應與電纜另一端的小互調響應合成時(shí),很可能會(huì )產(chǎn)生一個(gè)與頻率高度相關(guān)的反射互調響應。這種情況可能是因為基站中有一個(gè)由于有缺陷或設計不合理的天線(xiàn)返回的大互調信號造成的。
當同軸電纜的 溫度改變(比如,電纜的損耗發(fā)熱或者陽(yáng)光的照射)時(shí),電纜的電長(cháng)度將會(huì )發(fā)生變化。這種變化會(huì )造成電纜長(cháng)度的增加,以及速率因子的減小。當電纜的長(cháng)度變化 時(shí),使得多個(gè)互調源間的相位改變,從而造成基站雙工機接收端產(chǎn)生的互調值發(fā)生變化。那么,互調值隨溫度函數增加或減小,將會(huì )導致基站容量的變化。
雖然,本文以射頻集成電纜為例來(lái)說(shuō)明互調的測量,但該結論可以延伸并同樣適用于任何兩端口器件。根據器件本身傳輸函數的定義,與雙工器、濾波器或天線(xiàn)相關(guān)的互調特性也可以被確定了。
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