手動(dòng)或自動(dòng)操作的雙向可控硅測試儀

　　雙向可控硅是雙向交流開(kāi)關(guān)，可以在最高600V電壓下控制高達25A rms電流的負載。它們用于電機速度、加熱器和白熾燈的控制。邏輯型雙向可控硅對微控制器驅動(dòng)器件尤有吸引力。微控制器輸出端口可以直接驅動(dòng)一只雙向可控硅，因為可控硅的觸發(fā)電流只有3~10mA。與所有電子器件一樣，雙向可控硅也存在一些內部問(wèn)題，在將其用于某個(gè)設計以前可以檢測這些問(wèn)題。

圖1，雙向可控硅測試儀用一只開(kāi)關(guān)轉換測試信號的極性。

　　圖1是一個(gè)簡(jiǎn)單而成本低廉的測試設備，它可測試Littelfuse公司的L2004F31、L2004F61、L2004L1和L4004V6TP雙向可控硅，也可以用于測試任何其它的引線(xiàn)式雙向可控硅，因為所有標準封裝（包括TO-220AB、TO-202AB、TO-251和Ipak）都有相同的管腳布局。用一個(gè)IC插座可以便于插入待測雙向可控硅。這種方法也適用于SMD（表面貼裝器件），前提是能找到或創(chuàng )建一個(gè)合適的測試插槽。極性開(kāi)關(guān)S1是一只DPDT（雙刀雙擲）器件，用于檢查雙向的導通性。切換開(kāi)關(guān)S2是瞬時(shí)SPST（單刀單擲）按鍵器件，通過(guò)電阻R2連接柵極（Pin 3）與MT2（Pin 2），以觸發(fā)待測的雙向可控硅（圖1）。

表1，雙向可控硅的測試

　　測試過(guò)程只花不到5s，包含4個(gè)步驟（表1）。LED向測試操作者顯示每個(gè)步驟的結果。如果所有四步測試均獲通過(guò)，則雙向可控硅合格。在制造期間要再做一次雙向可控硅測試，以保證裝配板沒(méi)有問(wèn)題，雙向可控硅工作正常。這一測試可節約時(shí)間與人工，避免整件產(chǎn)品裝配完后才發(fā)現問(wèn)題。做此測試時(shí)雙向可控硅已焊在電路板上。使用的電源電壓為標稱(chēng)120/220V AC。測試應對DUT有最小影響，并使用最少的時(shí)間與工作量。測試中用雙向可控硅測試儀代替一個(gè)負載。從測試儀到DUT的連接可以有變化，而且要確保在連接120/220V AC時(shí)采取一些安全措施。