天線(xiàn)測試方法的選擇及評估
圖5:一個(gè)用于天線(xiàn)測試的200MHz至40GHz小型錐形暗室
圖6:從圖中可以看出,在200MHz點(diǎn)測得的反射率大于30dB
圖7:圖中測試采用雙脊喇叭作為源
圖8:圖中測試采用一個(gè)對數周期天線(xiàn)來(lái)掃描QZ以測量反射率
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圖5:一個(gè)用于天線(xiàn)測試的200MHz至40GHz小型錐形暗室
圖6:從圖中可以看出,在200MHz點(diǎn)測得的反射率大于30dB
圖7:圖中測試采用雙脊喇叭作為源
圖8:圖中測試采用一個(gè)對數周期天線(xiàn)來(lái)掃描QZ以測量反射率
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