泄漏試驗的溫度影響及補償

在差壓檢漏法和絕對壓力法一樣都是遵循理想氣體狀態(tài)方程的，若檢驗氣體未完全達到平衡狀態(tài)，則溫度必然對檢測結果產(chǎn)生影響。

通常溫度的影響主要來(lái)自?xún)蓚€(gè)方面，一是環(huán)境溫度，二是工件溫度。對于環(huán)境溫度，應使整個(gè)檢測系統處于同一環(huán)境溫度下，在試驗過(guò)程中還應避免環(huán)境溫度的變化。此外，壓力測量法中采用差壓法時(shí)，使被測工件與標準樣件處于同樣的環(huán)境溫度下，即可起到補償作用。而對于工件溫度，在差壓檢漏法中已提出應使工件處于室溫狀態(tài),也就是說(shuō)應盡可能從工藝流程上予以解決.這樣即經(jīng)濟又可靠。但目前在我們一些現有的或新設計的生產(chǎn)線(xiàn)上，都很難實(shí)現使工件達到室溫狀態(tài)。特別是通常在試驗前，需將工件清洗、吹干，在這種情況下應如何解決工件溫度對測量結果的影響呢？可以采取以下幾種方法：

第一種方法通常稱(chēng)為二次測量法，即將被試工件密封后，首先以低于所要求的試驗壓力充氣測量，然后再按所要求的試驗壓力進(jìn)行二次充氣測量，顯然這種方法將加速工件與檢驗氣體溫度趨于一致。這種方法因其測量精度較低，加之生產(chǎn)節拍的限制，故較少應用。

第二種方法稱(chēng)之為統計法。顧名思義，該方法是以實(shí)際試驗所得到的統計數據為依據，找出其中的規律，并適當地修正廢品值以滿(mǎn)足測量要求。該方法結構簡(jiǎn)單，費用低，目前被廣泛采用。例如，德國佛羅里西公司的檢漏儀上就帶有DPK鍵，即泄漏速率修正鍵，采用該鍵很容易實(shí)現統計法對測量結果的補償。此外，采用該鍵還可用來(lái)縮短試驗過(guò)程中的平衡時(shí)間，從而縮短整個(gè)試驗時(shí)間。但是，應當指出的是，當工件不處于室溫狀態(tài)時(shí)就很難保證所有的工件都具有相同的溫度。這種情況下，如果工件間的溫差較大且檢測精度又相對要求較高，則統計法也就無(wú)法滿(mǎn)足要求了。

第三種方法是采用兩個(gè)溫度傳感器，一個(gè)用于測量檢驗氣體的溫度，加一個(gè)測量被試工件的溫度。其辦法是根據泄漏標準工件，測出其與檢驗氣體的各個(gè)溫度差及相應壓降值，依據廢品點(diǎn)，作出一條溫度、壓降曲線(xiàn)，作為溫度補償曲線(xiàn)，并將此曲線(xiàn)編程到檢漏儀中。在實(shí)際生產(chǎn)條件下，將再次測得的檢驗氣體與被試工件之間的溫度差及相應的壓降值輸入到儀器中，與所存入的溫度補償曲線(xiàn)相比較，即可得出補償后的檢測結果。

這種方法也可以用于補償環(huán)境溫度對測量結果的影響，其辦法是用上述測量被試工件的溫度傳感器測量密封夾具的溫度。但應當指出的是這種補償方法也是遵循某種統計規律的，并不是依據理想氣體的狀態(tài)方程檢測出檢驗氣體的溫度變化就可進(jìn)行補償的，因為在整個(gè)測量過(guò)程中檢驗氣體不可能達到平衡狀態(tài)。

采用溫度補償后其測量精度勢必有所降低，并增加費用。在實(shí)際應用中，應按實(shí)際生產(chǎn)條件，做了同批工件的實(shí)驗數據，從中選定一條適宜的曲線(xiàn)。(end)