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共聚焦顯微拉曼光譜儀在高聚物領(lǐng)域的應用
作者：
時(shí)間：2013-10-08
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò )
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這項技術(shù)最強大的應用優(yōu)勢在于，采用了共聚焦拉曼顯微鏡非破壞性地觀(guān)測樣本內部。通過(guò)簡(jiǎn)易地逐層深入聚焦薄膜復合層，可以輕松檢測層壓高聚物薄膜。圖4是該方面研究的示意圖。聚合物薄膜從化學(xué)方面加以改良后，共焦拉曼的強大功能可以深入樣品內部檢測其改良特性，位移1605 cm-1處可以看出改良的變化。位移1605 cm-1處的強度橫截面示意圖如圖5所示。薄膜總厚度約為12微米，改良表面的厚度（在這種情況下從二階微分的零交點(diǎn)開(kāi)始），約為1.8微米。共聚焦拉曼在這方面應用的優(yōu)勢在于，可獲得表層的光譜，從而研究改良化學(xué)性能，且估計出每層的厚度。無(wú)須橫截或者破壞樣本，便順利完成分析。 
共聚焦技術(shù)在應用時(shí)并不要求樣本具有明顯的層或范圍。圖6 展示了對聚乙烯薄膜上的一個(gè)凝膠瑕疵點(diǎn)的構成進(jìn)行探測的結果，這種瑕疵點(diǎn)有時(shí)被稱(chēng)為“魚(yú)眼”。與顯示明顯對比的外部與內部構成數據不同，在這里，數據更是顯示了坡度。隨著(zhù)對瑕疵更深層的區域進(jìn)行探測，2850/2885 cm-1峰值的比率持續縮小。整個(gè)過(guò)程中，樣本位移共計45微米。對凝膠結構有明顯影響的C-H取代作用的分布，通過(guò)比率得以表現。包圍在瑕疵點(diǎn)周?chē)钠胀ň垡蚁┍∧?，在該光譜系列中體現為一種近似器皿的介質(zhì)。 
結論
總體而言，拉曼光譜非常適合應用于高聚物研究。樣本不限形式，串珠、薄膜，或注塑元件均可，并且觀(guān)察探測過(guò)程不會(huì )進(jìn)行破壞性分析，僅需對樣本加以非常簡(jiǎn)單的預備或者完全無(wú)須預備。拉曼光譜對高聚物顯微結構、主鏈、潔凈度和構造非常敏感。測量參數，如共聚物比率，可采用精確的定量方法。隨著(zhù)共聚焦拉曼顯微鏡越來(lái)越廣泛的應用，許多其他有關(guān)瑕疵分析、產(chǎn)品界定和競爭力產(chǎn)品研究方面的用途，將會(huì )不斷涌現。(end)
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