IEEE1588協(xié)議測試方法

⑤重新啟動(dòng)測試，再從時(shí)鐘結果顯示界面，可以檢查Sync Latency的值（接近0，低于100ns），Delay Request Latency的值（接近0，低于100ns），Latency Asymmetry的值（接近0，低于50ns），Offset From Master (OFM)的值（接近0，低于100ns）的參數：

可以微調校準因子（Calibration Factor），使得以上參數接近0。

●在兩個(gè)測試端口分別模擬主時(shí)鐘和從時(shí)鐘

在主時(shí)鐘測試接口發(fā)送Sync message的速率，在從時(shí)鐘測試接口發(fā)送Delay Request的速率可以調節。測試拓撲如圖2所示。

●測試結果

如圖4所示，測試結果會(huì )非常直觀(guān)地顯示在界面上，測試系統會(huì )實(shí)時(shí)顯示Sync Correction Factor Error和Delay Request Correction Factor Error等。

圖4 CF Error測試結果

●變化以下條件，重復上述測試步驟

①加快Sync和Delay Request消息的發(fā)送速率。

②增加在一個(gè)測試端口模擬從時(shí)鐘的數量。

③用多對端口，并分布在不同的時(shí)間域中雙向測試，由于端口的不對稱(chēng)，發(fā)現商用透傳時(shí)鐘在多端口存在測試結果的差異性，因此需要我們用多對端口測試，可以觀(guān)察在大的壓力下透傳時(shí)鐘計算CF值的準確性。

④同時(shí)在多個(gè)時(shí)間域中執行測試。這將測試透傳時(shí)鐘是否會(huì )與上行多個(gè)主時(shí)鐘（在多個(gè)時(shí)間域）同步。如果不能同步上，透傳時(shí)鐘的時(shí)間基準就會(huì )不準確，造成CF值的計算錯誤。

⑤在測試過(guò)程中，在數據平面可以增加背景業(yè)務(wù)流，模擬真實(shí)環(huán)境。

⑥在控制平面，可以同時(shí)仿真多個(gè)協(xié)議，例如同時(shí)仿真最小生成樹(shù)和其它路由協(xié)議。

⑦PTP協(xié)議可以在單播和組播兩種模式下分別進(jìn)行測試。

2.2 PTP大規模測試（PTP Scalability）

大多數PTP系統里有很多從時(shí)鐘。在系統中隨著(zhù)從時(shí)鐘數量的增加，會(huì )加重主時(shí)鐘或邊界時(shí)鐘的處理負擔。因此，在設計、布置和升級PTP設備的時(shí)候，主時(shí)鐘、邊界時(shí)鐘和透傳時(shí)鐘的大規?；鶞蕼y試非常重要。利用IXIA測試系統，可以非常容易模擬在多個(gè)時(shí)間域里大量的主時(shí)鐘和從時(shí)鐘。PTP設備所能支持的規模與很多因素有關(guān)，例如，Sync和Delay-Request消息的發(fā)送速率，是用單播模式還是組播模式等。以下詳細介紹測試主時(shí)鐘規模的測試方法。測試拓撲如圖5所示。

圖5 PTP大規模測試拓撲圖

（1）測試步驟

●IXIA測試系統可以實(shí)時(shí)監測每塊板卡上CPU和內存的占用情況。啟動(dòng)Dashboard功能，以保證測試的瓶頸不是由于測試儀表造成的。如果發(fā)現測試儀表板卡的CPU和內存的占用過(guò)高，可以使用更多數量的測試板卡，以降低每塊測試板卡的壓力，并可把壓力匯聚到被測系統。

●仿真50個(gè)從時(shí)鐘，建立從時(shí)鐘的速率可以設置為5 slaves/100sm。

●判斷被測設備主時(shí)鐘能支持的最大從時(shí)鐘數量。根據兩個(gè)條件判斷，即所有仿真的從時(shí)鐘都達到Slave狀態(tài)；經(jīng)過(guò)一段測試時(shí)間，從時(shí)鐘所發(fā)送的Delay response 消息數應等于所接收的Delay request消息數。

●如果通過(guò)測試，則再增加從時(shí)鐘的數量；如果沒(méi)有通過(guò)測試，就減少從時(shí)鐘的數量。用二次折半法，可以測試出被測設備所能支持的最大從時(shí)鐘數量（見(jiàn)表1）。也可以通過(guò)改變不同消息的發(fā)送速率，來(lái)測量被測設備所能支持最大的從時(shí)鐘數量（見(jiàn)表2）。

表1 用二次折半法查找被測設備所支持的最大從時(shí)鐘數量

表2 在不同的條件下測量被測設備所支持的從時(shí)鐘數量

●在測試過(guò)程中，改變條件（在多個(gè)時(shí)間域中測試，在單播和多播兩種模式下進(jìn)行測試，在one-step模式和two-step模式下進(jìn)行測試）來(lái)測試被測設備的規?；鶞?。
2.3 最佳主時(shí)鐘選擇算法（Best Master Clock）

最佳主時(shí)鐘（MBC）選擇算法主要應用在從時(shí)鐘和邊界時(shí)鐘的從時(shí)鐘端口上，在本時(shí)間域選擇質(zhì)量最好的主時(shí)鐘。此算法主要是比較不同的時(shí)鐘質(zhì)量參數，以特定的優(yōu)先級順序選擇最佳主時(shí)鐘。IXIA測試系統可以模擬多個(gè)帶有不同時(shí)鐘質(zhì)量參數的主時(shí)鐘。如果被測設備是邊界時(shí)鐘，則下游IXIA測試系統所仿真的從時(shí)鐘可以很容易地確定系統的祖時(shí)鐘（Grandmaster）和被測設備所選擇的是否相同。以測試邊界時(shí)鐘為例，詳細介紹測試過(guò)程，測試拓撲如圖6所示。

圖6 BMC測試拓撲圖