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IC內置熔絲熔斷方法

作者: 時(shí)間:2013-06-12 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò ) 收藏
1 引言

某些計量為了防止工藝上電阻溫度-階溫度因子的偏差,采用了結構以得到更精確的基準。在圓片測試時(shí),可以根據實(shí)際基準點(diǎn)在一定范圍內進(jìn)行調整,使出廠(chǎng)的基準更加精確,一致性更好??膳渲眯砸彩前雽w發(fā)展的一個(gè)方向。對于可編程電路,可根據市場(chǎng)的需求燒編程,使電路具有更強的適應性,而且是一次性編程,具有更強的安全性。一個(gè)優(yōu)秀的測試程序應當有明顯的模塊化,簡(jiǎn)明有效、邏輯性強。這樣的程序便于他人閱讀理解和相互交流,也有利于調試過(guò)程中的修改調整。

2 熔絲熔斷的硬件設計

2.1 硬件設計原理

熔絲是集成電路生產(chǎn)中所使用的一項重要技術(shù)。熔絲的結構如圖1。

IC內置熔絲熔斷方法

熔絲可以用金屬(鋁、銅等)或硅制成。熔斷熔絲需要較大的瞬間電流。具體所需電流,根據實(shí)際條寬和厚度而不盡相同,一般通常是幾百毫安。如此大的電流對測試儀的PE板很容易造成損傷,況且并不是所有測試儀的PE板都具備這樣的電流驅動(dòng)能力。

為了能提供足夠大的瞬問(wèn)電流,又保護PE卡不受損,我們設計的硬件方案使熔絲引線(xiàn)不接入測試儀的通道,而通過(guò)電容放電來(lái)提供熔斷熔絲所需的瞬間大電流。電容的充電、放電由來(lái)控制,而的開(kāi)啟、閉合由測試儀通道(所選擇通道由用戶(hù)根據需要任意定義)提供電壓來(lái)控制。原理圖如圖2。

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在通常情況下,CH33和CH34默認值為0.0V。RELAY1和RELAY2不工作。此時(shí)電容C1、C2接在VCC上進(jìn)行充電。當將CH33設定為5.0V時(shí),繼電器RELAY1工作,電容C1與VCC脫開(kāi),轉而跨接在熔絲FUSE1兩端,電容C1放電,熔斷熔絲FUSE1。而C2仍在充電。同樣,如果將CH34設定為5.0V時(shí),將熔斷熔絲FUSE2。

2.2 硬件設計的優(yōu)點(diǎn)

可以看出該設計具有如下優(yōu)點(diǎn):

(1)熔斷熔絲時(shí)的大電流由電容產(chǎn)生,直接施加至熔絲兩端。由于避丌了測試儀,所以電流不受測試儀額定電流的限制,不會(huì )對測試儀造成不良傷害。

(2)在特定時(shí)刻對特定電路進(jìn)行測試時(shí),該電路只可能是某一狀態(tài),也就是說(shuō)只是執行眾多熔絲方案中特定的一種。所以在特定時(shí)刻,各根熔絲只是選擇熔斷或保持兩者之一,即相對應的電容最多只進(jìn)行一次放電。由于在默認狀態(tài)或者在執行其他參數測試或功能測試時(shí),所有熔絲所對應的電容都處于充電狀態(tài),所以各個(gè)電容有足夠的電量產(chǎn)生所需的大電流。同時(shí)硬件設計中采用一根熔絲對應一個(gè)繼電器、一個(gè)電容,既可準確操作,相互之間又不會(huì )有任何影響。

(3)硬件設計中用繼電器來(lái)選擇電容是接在電源上充電或是跨接在熔絲兩端放電。繼電器的選通由相應的測試通道來(lái)控制。由于測試通道的狀態(tài)可以在主程序中設定,又可以在測試矢量中進(jìn)行驅動(dòng)。所以該設計可以實(shí)現與參數測試或功能測試的相互兼容并友好交換。

3 熔絲調整基準

3.1 熔絲方案簡(jiǎn)介

表1所示是某電路的熔絲調節方案。其中Tosc表示所測振蕩方波周期?!?”表示Oa-Ob間的熔絲不熔斷,“1”表示Oa-Ob間的熔絲熔斷。Tosc超出表1第一列所示范圍則判為無(wú)效。調節精度為0.44μs/(一個(gè)最小調節單位)。

IC內置熔絲熔斷方法

3.2 傳統方法

在對芯片進(jìn)行測試時(shí),根據實(shí)際測得的頻率值選擇相應的熔絲方案,燒斷所對應的熔絲,將所測試電路的基準進(jìn)行一定量的調整,使基準趨于理想的范圍。傳統方法是機械地用if...else語(yǔ)句來(lái)編程,程序如下:

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3.3 傳統方法的弊端

就結果而言,該測試程序是正確的,完全可以達到技術(shù)要求。但我們可以發(fā)現程序如此編寫(xiě)的明顯弊端:

(1)程序的編寫(xiě)相當繁瑣,容易出錯。就該產(chǎn)品而言,調整熔絲的可能方案共有32種。所以程序將會(huì )非常累贅。況且如此多的if...else語(yǔ)句通常足拷貝后對語(yǔ)句體進(jìn)行相應的修改,而每種方案中會(huì )有0~5根不同組合的熔絲需要熔斷,所以在編程過(guò)程中很有可能出現失誤且不容易發(fā)覺(jué)。如此很有可能燒錯熔絲,而熔絲是不可恢復的。這樣的損失是無(wú)法彌補的。

(2)程序缺乏模塊性,可讀性差,不便于他人閱讀理解和相互交流;在新品調試分析過(guò)程中修改、調整不便,操作靈活性差。

3.4 改進(jìn)方法

對于復雜問(wèn)題我們應當進(jìn)行分析,設法找出其中的規律,針對規律沒(méi)計出合理有效的方法。針對表1進(jìn)行適當的調整,可以得表2。

IC內置熔絲熔斷方法

由表2可以看出,如果將[O5-O6]、[O4-O5]、[O3-O4]、[O2-O3]、[O1-O2]五個(gè)元素組成的數組看作一個(gè)二進(jìn)制數的值,則該值與COUNT整數部分的值是完全吻合的,而且是順序遞增的。所以可以考慮設一個(gè)變量OSC=(25.21-Tosc)/0.44,對OSC取整(COUNT=floor(OSC)),再將COUNT轉化成二進(jìn)制(ultoa(COUNT,V,2)),再對二進(jìn)制變量進(jìn)行掃描分析,對于為1的位進(jìn)行熔絲燒斷操作,對于為0的位不操作。這樣就將對32種方案的分析轉變成對5根熔絲的分析。具體程序如下:

IC內置熔絲熔斷方法

3.5 結論

對比可以看出,傳統方法雖然結果正確,但是僅適用于熔絲較少的情況。隨著(zhù)熔絲數目的增加,假設由5根增加為6根,那么熔絲方案就會(huì )由32種增加到64種,程序的長(cháng)度就會(huì )呈指數倍數增加,不僅增加了編程的工作量,而且編程中出錯的幾率也會(huì )相應增加。而改進(jìn)方法顯然程序簡(jiǎn)潔,便于閱讀、調試和分析;而且模塊化、條理清晰,不易出錯;熔絲數目的增加并不會(huì )使程序的篇幅明顯增加。因而改進(jìn)方法具有強大的適應能力,可以適用于大多數熔絲類(lèi)產(chǎn)品。目前公司熔絲類(lèi)產(chǎn)品基本都采用該方法,具有極大的實(shí)用價(jià)值。

4 熔絲編程

4.1 熔絲編程簡(jiǎn)介

可編程遙控編碼電路,可應用于夜盜報警系統、汽車(chē)防盜系統、車(chē)庫門(mén)控制系統、家庭/辦公安全系統及個(gè)人報警系統。編碼信號輸入時(shí)序如圖3所示。

IC內置熔絲熔斷方法

4.2 熔絲編程方案難點(diǎn)

由于電路應用于安全系統,所以對各個(gè)電路的編碼要求具有唯一性,也就意味著(zhù)在測試時(shí)對各個(gè)電路要輸入不同的測試碼。而測試系統所調用的測試碼在測試過(guò)程中是不能更改的,即便能找出方法對不同的電路調用不同的測試碼,也不具可操作性。因為就拿本電路來(lái)說(shuō),它具有22根熔絲,即可支持多達222種地址碼,不可能編寫(xiě)222個(gè)測試碼來(lái)對222個(gè)電路分別編程。

4.3 熔絲編程解決方案

對此,可以先將測試碼進(jìn)行分割,測試碼由22段組成,第1段燒第1根熔絲,第2段燒第2根熔絲,……,第22段燒第22根熔絲。再將22根熔絲看作是一個(gè)22位的數組。要燒制的代碼取決于變量COUNT,測試時(shí)將COUNT轉換成二進(jìn)制變量,再對二進(jìn)制變量進(jìn)行掃描分析,對于為1的位調用相應段的測試碼,燒斷相應的熔絲,對于為0的位不操作。具體程序如下:

IC內置熔絲熔斷方法

4.4 結論

該方案巧妙地解決了由于受測試系統的限制原本不便解決的問(wèn)題。同時(shí),由于變量COUNT的值存儲于測試儀硬盤(pán)上的記錄文件rec.txt,在每個(gè)電路測試開(kāi)始時(shí)由程序oprec將COUNT的值讀入機器內存中,在每個(gè)電路測試結束后將變量COUNT加一后再由程序clrec存入記錄文什rec.txt。這樣既可保證每個(gè)電路編碼的唯一性,又可保護數據不會(huì )因突發(fā)事件而丟失,具有極強的安全性。

5 結束語(yǔ)

總而言之,寫(xiě)一個(gè)測試程序并不難。但IC市場(chǎng)是一個(gè)日新月異、競爭相當激烈的市場(chǎng)。所以作為一個(gè)優(yōu)秀的測試軟件工程師,應當能從測試儀硬件配置的實(shí)際情況出發(fā),充分合理利用測試儀的

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