紅外熱像儀成LED應用和發(fā)展的關(guān)鍵因素

事實(shí)上，LED的實(shí)際壽命與工作溫度往往成反比，如LED使用壽命在工作溫度為74℃為10000小時(shí)、63℃為25000小時(shí)，小于50℃時(shí)，則可為50000小時(shí)。根本原因是LED的光電轉換效率極差，大約只有15%至20%左右電能轉為光輸出，其余均轉換成為熱能，因此，當大量使用高功率的LED于一塊模組，應用于高亮度的操作時(shí)，這些極差的轉換效率將造成散熱處理的大問(wèn)題。

熱像儀不僅在研發(fā)過(guò)程中能夠發(fā)揮作用，而且也可以應用在產(chǎn)品的品質(zhì)管理等方面。

1研發(fā):主要是對LED模塊驅動(dòng)電路（包括電源）、光源半導體發(fā)熱分布分析、及光衰測試等。

a）LED模塊驅動(dòng)電路

在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅動(dòng)電路設計，例如整流器電路模塊。利用熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現電路上溫度異常之處，便于完善電路設計。

b）LED光源半導體芯片發(fā)熱

利用熱像儀，工程師可以通過(guò)光源半導體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分析出其芯片在工作時(shí)的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎，達到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。

c）光衰試驗

LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱，而現階段全球的LED大廠(chǎng)們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著(zhù)直接的關(guān)系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。目前，市場(chǎng)上的白光LED其光衰可能是向民用照明進(jìn)軍的首要問(wèn)題之一。

2品質(zhì)管理

a）半導體照明：吹制燈泡均勻性

通過(guò)熱像儀抓拍產(chǎn)線(xiàn)玻璃吹泡的過(guò)程，進(jìn)行參數修正，改善掐口工藝，可以有效提高產(chǎn)品成品率，降低成本。

b）LED檢測芯片封裝前的溫度

LED芯片封裝前檢測溫度可以避免封裝后因溫度異常，降低廢品率。此階段手不能接觸表面，熱像儀能夠很好的幫助客戶(hù)發(fā)現此處的問(wèn)題，作為流水線(xiàn)檢測工具。

c）LED成品顯示屏開(kāi)機測試

LED顯示屏完成后，要做最后驗收，通過(guò)不同顏色的測試來(lái)看屏幕是否符合交貨的要求，目前大多數企業(yè)都沒(méi)有這個(gè)流程。使用熱像儀后，能夠為廠(chǎng)家完善產(chǎn)品檢測標準，提高產(chǎn)品質(zhì)量。

典型客戶(hù)

大晨光電、飛利浦照明等。

紅外熱像儀的獨特作用

在使用熱像儀前，LED產(chǎn)品企業(yè)一直都沒(méi)有很好的解決這個(gè)問(wèn)題手段或方法。熱像儀能夠發(fā)揮獨特作用：

1通過(guò)紅外線(xiàn)熱像儀檢測目標時(shí)，不需要斷電，操作方便，同時(shí)非接觸測量使原有的溫度場(chǎng)不受干擾；反應速度較快，小于1毫秒。

2Fluke熱像儀IR-Fusion技術(shù)：用戶(hù)采用Fluke專(zhuān)利IR-Fusion技術(shù)除了可以拍攝紅外圖像外，還可以同時(shí)捕獲一幅可見(jiàn)光照片，并將其融合在一起，有助于第一時(shí)間識別和定位故障。

拍攝時(shí)可能會(huì )遇到哪些問(wèn)題？

可能由于觀(guān)察目標較小，使用160×120熱像儀時(shí)，會(huì )發(fā)生很難發(fā)現準確的故障點(diǎn)，需要我們更換320×240熱像儀（甚至需要更換鏡頭）進(jìn)行檢測。

如何才能拍攝優(yōu)質(zhì)紅外熱像？

使用熱像儀進(jìn)行拍攝時(shí)，若要得到一幅優(yōu)秀的紅外熱圖，我們建議：

1需要分辨較小溫差的場(chǎng)合，盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀；

2先用自動(dòng)模式測量溫度范圍；然后手動(dòng)設置水平及跨度，將溫度范圍設置在最小，并包含有先前測量的溫度范圍。