LED光譜量測量中的若干問(wèn)題初探
?。ǎ保├肐nGaN/GaN蘭光芯片,結合激發(fā)光為黃光的熒光物質(zhì)YAG復合成白光;
?。ǎ玻├眉t、綠、蘭三基色通過(guò)各自比例的調整,復合成白光;
?。ǎ常┰赯nSe單晶基板上形成ZnCdSe薄膜,通電后薄膜發(fā)蘭光,它與基板產(chǎn)生連鎖反應發(fā)出黃光,復合成白光。
故各種白光LED離開(kāi)等能白的色品坐標,即WE(0.3333,0.3333)的差距各不相同,從而對應的色溫、色純度和顯色指數等參數也各不相同,所以對它進(jìn)行光譜量測量的重要性不言而喻。
準確測試LED各類(lèi)光電參數對改善LED的性能作用頗大,其中光譜量的測試基本上有三種方法,一是把測量光用若干塊不同波長(cháng)的帶通濾光片過(guò)濾后到達光探測器,光探測器一般用光電倍增管和硅光電二極管。二是把測量光經(jīng)衍射光柵分光后到達線(xiàn)陣CCD電荷耦合器件。三是用單色儀分光后進(jìn)行測量。前面兩種方法主要用于便攜式光譜測試儀對LED進(jìn)行多參數一次性快速測量,用同一結構配置的硬件測量多個(gè)參數必然降低測量精度,后一種方法計量部門(mén)運用較多,能得到高精度的測量值,但測量時(shí)間較長(cháng)。對單色LED主要測定其峰值波長(cháng)和半寬度(FWHM),對白色LED主要測定其相對功率分布,從而推導出其色品坐標,主波長(cháng)、色溫、色純度和顯色指數等參數,所以是光譜量測量的重點(diǎn)對象。
2單色儀使用中的一般技術(shù)
?。ǎ保┕鈻诺臏蚀_對焦:目的是使被測光源的光達到光柵時(shí)能充滿(mǎn)光柵,以便減小光通過(guò)單色儀后的衰減率。光斑太小使出射光的信號減小,光斑尺寸超過(guò)光柵又會(huì )使這部分光變成雜散光而降低測量精度。所以入射光的配置必須符合所用單色儀的f/D數,使得與LED匹配的透鏡能使被測光正好臨界地充滿(mǎn)光柵。
?。ǎ玻┆M縫尺寸的設置:一般使出、入射狹縫等寬度,這時(shí)所得信號形狀為等腰三角形,否則將變成梯形甚至更復雜的形狀。狹縫的寬窄應根據被測光的強弱同步調節。狹縫的高度也要相應限制,這只能靠在出、入射狹縫前后放置各種寬度的平行光闌達到,因為單色儀一般并沒(méi)有調節狹縫高低的功能。狹縫尺寸過(guò)大會(huì )降低光譜量的純度,當儀器的最小實(shí)際帶寬不大于設置帶寬的1.2倍時(shí),將得到最小的光譜帶寬。
?。ǎ常┎ㄩL(cháng)鼓的使用:首先,由于氣溫變化造成波長(cháng)尺的熱脹冷縮,必須在紫外,可見(jiàn)和紅外波段定期予以校正,校正時(shí)常用發(fā)射波長(cháng)的低壓汞燈、氘燈,見(jiàn)表1和表2所示[2]。
表1 可采用的低壓汞燈的發(fā)射波長(cháng) nm
編 號 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 |
波 長(cháng) | 226.22 | 230.21 | 248.20 | 253.65 | 275.28 | 296.73 |
編 號 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 |
波 長(cháng) | 302.15 | 313.18 | 365.02 | 365.48 | 366.33 | 404.66 |
編 號 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 |
波 長(cháng) | 435.83 | 491.60 | 546.07 | 576.96 | 579.00 | 690.72 |
編 號 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 | - |
波 長(cháng) | 1014.0 | 1128.8 | 1364.6 | 1349.1 | 1529.6 | - |
表2 氘燈的發(fā)射波長(cháng) nm
編 號 | 1 | 2 |
波 長(cháng) | 486.02 | 656.10 |
之所以在表中列出紫外和紅外波長(cháng)是考慮到LED在軍用夜視儀和電器遙控器中的應用。其次,變換波長(cháng)時(shí)必須由大到小或由小到大順序進(jìn)行,不可來(lái)回反復,否則會(huì )造成波長(cháng)示值不準確。
?。硢紊珒x使用中易被忽略的問(wèn)題
?。ǎ保┆M縫散射函數[3]:?jiǎn)紊珒x從本質(zhì)上講,是波長(cháng)連續可變的濾波器。根據濾波理論,一個(gè)濾波器的輸出信號是輸入信號和濾波器傳遞函數兩者的卷積。故濾波器輸出端的信號,一定要去除卷積,即解出卷積方程,才能得到真實(shí)信號。因為單色儀的儀器函數不是一個(gè)δ函數,單色儀出射的量不會(huì )具有100%的純度。所以用單色儀測量一個(gè)光譜量,若不經(jīng)過(guò)狹縫函數的修正,必然會(huì )使光譜形狀發(fā)生畸變,俗稱(chēng)儀器加寬,具體說(shuō)就是譜線(xiàn)加寬和分辯率降低。為了簡(jiǎn)化狹縫散射函數的確定,一般情況下應把單色儀的入、出射狹縫設置成等寬度,因這時(shí)得到的狹縫函數形式上最簡(jiǎn)單。
?。ǎ玻┕庾V分辯率:如上所說(shuō),經(jīng)過(guò)單色儀分光后的值是單色儀的帶寬和LED實(shí)際發(fā)出光譜的卷積。倘若LED的光譜帶寬大于單色儀的光譜分辯率,則被測光譜不會(huì )因帶寬引起變化。相反地,一個(gè)窄帶的單色LED在通過(guò)低光譜分辯率的單色儀時(shí)光譜會(huì )引發(fā)變化。表3顯示了一個(gè)半寬度(FWHM)約20nm的紅色LED通過(guò)設置成不同帶寬的單色儀時(shí)其光譜分辯率對測量結果的影響。
表3 不同單色儀狹縫對一支紅色LED測量的影響[4]
輸出波形帶寬(nm) | 主導波長(cháng)(nm) | 質(zhì)心波長(cháng)(nm) | FWHM(nm) |
0.5 | 634.18 | 644.71 | 20.75 |
1 | 634.16 | 644.59 | 20.80 |
2 | 634.13 | 644.62 | 20.95 |
5 | 633.91 | 644.56 | 21.82 |
10 | 633.26 | 644.44 | 24.49 |
由表可見(jiàn),隨著(zhù)狹縫的增大,其輸出波形的帶寬增加,主導波長(cháng)和質(zhì)心波長(cháng)順序減小,而輸出波形的半寬度順序增加。所以狹縫的增加會(huì )使被測光的單色性變差。由表3還可知,在測量精度范圍內當質(zhì)心波長(cháng)幾乎不變的同時(shí)峰值波長(cháng)的半寬度(FWHM)卻有顯著(zhù)的增加,結果導致主導波長(cháng)漂移近1nm。一個(gè)數學(xué)模型以較高的仿真度顯示了LED的光譜寬度與色品坐標及主導波長(cháng)間的關(guān)系[5]。
?。ǎ常┕鈱W(xué)動(dòng)態(tài)范圍:它的大小取決于單色儀光學(xué)器件和配套電子儀器的質(zhì)量好壞。大的動(dòng)態(tài)范圍有助于提高測量精度以及色品三刺激值的純度,表4表示了一支紅光LED在各種動(dòng)態(tài)范圍下色度測量值的變化。
表4 一支紅色LED動(dòng)態(tài)范圍變化時(shí)的測試結果[4]
動(dòng)態(tài)范圍 | x色坐標 | y色坐標 | 主導波長(cháng)(nm) | 刺激值純度 |
10E2 | 0.675 | 0.282 | 648.1 | 87% |
10E2.5 | 0.701 | 0.286 | 637.0 | 96% |
10E3.5 | 0.714 | 0.287 | 634.3 | 100% |
由表可見(jiàn),隨著(zhù)動(dòng)態(tài)范圍的減小,色品刺激值的純度也顯著(zhù)減小,主導波長(cháng)也向長(cháng)波方向漂移,并且色品坐標也減小了。所以對LED進(jìn)行色度測量時(shí),顏色飽和度是否達到100%是測量精度的一個(gè)重要判據。動(dòng)態(tài)范圍的減小與引入測量噪聲的大小成正比。此外單色儀與CCD陣列器件的光譜儀相比,由于后者的動(dòng)態(tài)范圍小,致使測量所得的光譜波峰削減13%之多[4]。
?。ǎ矗╇s散光:在進(jìn)行光譜測量時(shí),雜散光是影響測量精度的主要原因,即使采取了許多措施,也只能減少雜散光而不能完全排除它,尤其是在可見(jiàn)光譜的短波段,這種影響更加顯著(zhù)。因為在蘭光區白光LED的光通量只占10%。再者,由于所測信號和雜散光混在一起構成測量信號,所以在400nm波長(cháng)點(diǎn),0.5%的雜散光就會(huì )引起5%的定標誤差,對白光LED而言,由于其發(fā)光光譜與普朗克發(fā)射體的偏差較大,所以更容易產(chǎn)生大的測量誤差,因為測量的計算程序通常只能根據普朗克黑體或灰體為基礎編制。所以蘭色LED相對窄的波峰相對于熒光物質(zhì)寬的發(fā)射光譜應設計一個(gè)合適的權重,以提高色度坐標測量的正確性。表5列出了一支白光LED的測量結果。
表5 三臺光譜儀對白光LED色坐標的測量結果[4]
光譜儀類(lèi)型 | 雜散光屏蔽水平 | X色坐標 | 偏差 | y色坐標 | 偏差 |
光柵掃描 | >10E-4 | 0.2894 | - | 0.3041 | - |
CCD陣列1 | 10E-3 | 0.2903 | 0.0009 | 0.3065 | 0.0024 |
CCD陣列2 | 10E-2.5 | 0.2915 | 0.0021 | 0.3098 | 0.0058 |
這些值是在一個(gè)傳統的單色儀和兩個(gè)多通道快速測量光譜儀上做的,后者的光學(xué)動(dòng)態(tài)范圍較小。由表可見(jiàn),由于前者的雜散光屏蔽設置較好,所以,測量結果的準確性較高,其誤差程度在0.3%至2%之間;基于色品坐標的構成特點(diǎn),y色坐標比x色坐標的誤差要大1倍。由此還可看出,單就雜散光影響而言,當今商品化的多通道快速測量?jì)x的儀器級別比C級還要低1倍以上[2]。
?。唇Y束語(yǔ)
白光LED合成的空間輻射的光譜測量必須考慮到多重因素的影響,不準確的分光測量不但會(huì )導致峰值波長(cháng)及其半寬度的測量誤差,還會(huì )導致大的色度測量誤差。所以要求光譜測量?jì)x器的光譜分辯率應小于0.5nm,其對雜散光的屏蔽水平應小于測量信號值的3個(gè)量級。
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