階梯壓力加速測試：LED燈具壽命的快速檢測

　　隨著(zhù)LED市場(chǎng)發(fā)展快速，壽命評估已經(jīng)成為新興照明應用的一個(gè)關(guān)注點(diǎn)。傳統熱管理面臨一大挑戰：傳統溫度測試并不適合測試所有燈具，這就迫切要求建立一個(gè)有效和快速的壽命評定方法，以支持和推動(dòng)LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展。

　　桂林電子科技大學(xué)院長(cháng)、教授楊道國在2012中國國際半導體照明論壇上做題為《LED燈具壽命的快速檢測：階梯壓力加速測試》的報告時(shí)提出，半導體行業(yè)通常有一個(gè)可靠性測試方法：持續加速測試。但是這個(gè)測試對高可靠性產(chǎn)品并不很適用，因此必須設計出階梯壓力加速測試，以減短測試時(shí)間。

　　楊道國教授提出的階梯壓力加速測試有幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)：適合長(cháng)壽命的產(chǎn)品、測試時(shí)間短、測試樣本小、顯示出LED產(chǎn)品潛在的可靠性試驗應用，其次階梯壓力加速測試對LED產(chǎn)品進(jìn)行研究，在設計實(shí)驗的基礎上取得了一些初步結果。根據這個(gè)實(shí)驗結果可以得出快速壽命評估方法適用于LED產(chǎn)品。

　　因為內部測試，壽命等方面不同，可靠性測試有很多挑戰。而階梯壓力加速測試是有效的方法，目前已經(jīng)進(jìn)行了初步測試，希望未來(lái)對模具也能進(jìn)行測試，期待得到更多結果。

　　在提到有效性測試時(shí)，楊道國教授表示目前有幾種方法能減少測試時(shí)間、降低測試成本。比如將各個(gè)次體統相結合，建立一個(gè)完整系統的方法，其模擬結果與真實(shí)結果對比，發(fā)現在節溫上長(cháng)效機制得到改變。