淺談借助靜電測試提高LED品質(zhì)
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結論
本文對所開(kāi)發(fā)高速大動(dòng)態(tài)范圍LED晶圓靜電量測模組，使輸出電壓可涵蓋規范靜電分類(lèi)之最小電壓250V至最大電壓8000V大動(dòng)態(tài)范圍；并縮短低電壓切換至高電壓上升時(shí)間至80ms以?xún)?，未?lái)將進(jìn)行小型試量產(chǎn)與至客戶(hù)端進(jìn)行耐久測試，并視商品化需求進(jìn)行修改，以達高速與大動(dòng)態(tài)范圍LED晶粒線(xiàn)上檢測與分類(lèi)目的。于應用方面除可用于LED靜電測試外主，搭配探針點(diǎn)測技術(shù)可應用于半導體BGA、CSP（Chip Scale Package）、FC（Flip Chip）微小元件晶圓靜電測試。進(jìn)一步應用包括可用于X-ray Tubes、Photomultiplier Tubes、Electron Beam Focusing等。
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