逐次比較式ADC 采樣頻率的選取及應用
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為保證TLC2543 的采樣誤差在1/16 L SB 之內， 單片機提供給TLC2543 的f I/O 不應高于2。 325MHz。當單片機提供給TLC2543 的f I/O 分別為4MHz 和2MHz 時(shí)， 其等速加載的控制結果見(jiàn)圖4 和圖5。
由圖4 可見(jiàn)， 由于其f I/O 大于2。 325 MHz，TLC2543 的內部等效電容充電不完全， 因此采樣誤差較大， 從而控制品質(zhì)較差。圖5 中f I/O 小于2。 325MHz， TLC2543 的內部等效電容充電完全， 保證了其采樣誤差在1/16 L SB 之內， 因此其控制品質(zhì)較好。
總 結
通過(guò)簡(jiǎn)化測控系統前向通道的等效模型， 說(shuō)明了如何控制逐次比較式ADC 的采樣頻率與等效信號源的輸出阻抗匹配， 從而保證ADC 的采樣誤差在1/16L SB 之內L。并通過(guò)實(shí)驗對比， 驗證了其有效性。
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