解析質(zhì)檢儀的光電讀出原理

　　如圖2所示，AA‘為顯微鏡的正確軸線(xiàn)（光軸與機械軸重臺），A與A’是物像共軛點(diǎn)，設物面標志物為一個(gè)中心位于A(yíng)的小圓孔，當顯微鏡使用過(guò)程中，物鏡中心0產(chǎn)生了一個(gè)∠的橫向位移時(shí)，則A點(diǎn)的像將由A‘移到A“，即像方產(chǎn)生∠’的位移，∠‘泌＝s’/s＝卩，卩為顯微物鏡的橫向放大倍數。若在像平面上放置四象限硅光電池，如圖2所示，由于圓形像光斑中心的偏移，則破壞了原來(lái)光電池四部分輸出的平行狀態(tài)，將四部分輸出信號經(jīng)過(guò)前置放大（PM）后，按下列規則進(jìn)行邏輯運算：

　　圖1 光學(xué)原理圖

　　值得強調指出，上述的“除法器”是針對質(zhì)檢儀鑒定后在使用過(guò)程中發(fā)現的不足而實(shí)施的重要改進(jìn)。除法器的功能在于消除由于電網(wǎng)波動(dòng)及環(huán)境因素所引起的誤差，并使信號輸出與入射光強無(wú)關(guān)，便于定標。