基于FPGA實(shí)現邏輯芯片的功能故障測試

　?。?）在芯片型號檢索對話(huà)框中輸入“74LS08”型號后，點(diǎn)擊“確定”按鈕即可完成芯片檢索的流程。

　?。?）自動(dòng)測試模式下，系統將調用數據庫中被測芯片的完整測試數據，并且完成整個(gè)測試集的循環(huán)測試。

　?。?）打開(kāi)系統的串口后，用戶(hù)需要將被測芯片放入測試插槽中，然后鎖死插槽以確定被測芯片的引腳與插槽接觸良好。這時(shí)只需要點(diǎn)擊“開(kāi)始測試”,系統就會(huì )自動(dòng)進(jìn)行循環(huán)測試。在系統插槽中放入74LS08芯片后的測試結果顯示“該芯片功能測試全部通過(guò)”,其顯示如圖3所示。

圖3 常規測試結果

　　3.2 故障測試

　　本文以74LS00芯片模擬74LS08芯片的故障片來(lái)進(jìn)行一次故障測試，以驗證測試系統對故障的識別。由74LS00芯片和74LS08芯片兩款芯片的引腳數與引腳分布方式是一樣的。但是在功能上，74LS00芯片為雙輸入四與非門(mén)，而74LS08芯片為雙輸入四與門(mén)。這就意味著(zhù)，當兩者的輸入值相同時(shí)，芯片功能正確情況下的輸出值應該正好相反。這樣的輸入輸出關(guān)系可以用來(lái)模擬74LS08芯片的全故障情況。這時(shí)，用戶(hù)需要把74LS00芯片鎖入測試插槽，點(diǎn)擊“開(kāi)始測試”后的界面如圖4所示。

圖4 故障測試結果

　　此時(shí)，如果被測芯片依然為74LS00芯片，而從上位機的數據庫中重新調入74LS00芯片的測試信息進(jìn)行測試，其測試結果則顯示為“該芯片功能測試全部通過(guò)”.其顯示界面如圖3所示。由此可以驗證，測試系統對芯片功能故障的判斷十分準確，并且測試系統可以準確的識別存在故障的測試矢量位置，以便于用戶(hù)進(jìn)行進(jìn)一步的分析。

　　4.結論

　　本文用FPGA進(jìn)行了一個(gè)芯片功能測試系統，并對其功能進(jìn)行了驗證，實(shí)驗結果表明該系統測試方法簡(jiǎn)單，測試過(guò)程迅速，測試結果準確。該系統為芯片功能測試提供了一個(gè)很好的解決方案，具有重要的應用價(jià)值。