您應該了解的高速串行數據下一代測試解決方案

探測

泰克探測裝置提供從被測設備（DUT）到儀器的關(guān)鍵路徑的解決方案。對于低電壓差分信號，泰克探頭擁有真正的差分性能，并針對信號保真度進(jìn)行優(yōu)化，最大限度地減少線(xiàn)路上的信號干擾。

P7300和P7500系列高頻有源探頭，連接靈活方便，線(xiàn)路負載低。便捷的互連組合系統亦支持多種 DUT 應用。

P7300SMA系列高頻段 SMA 差分探頭，可提供 50 歐姆直接電纜輸入。 SMA 直接電纜輸入，支持串行數據測試夾具和普通模式 的DC 電壓輸入，可以與實(shí)時(shí)示波器一起配置用于多通道采集。

信號源

泰克信號發(fā)生器能夠產(chǎn)生模擬現實(shí)世界中的信號。如果用戶(hù)需要盡可能真實(shí)地模擬這些條件，可編程信號源將是正確工具。而要產(chǎn)生于當今的數據傳輸率相當的真實(shí)信號，用戶(hù)需要的是高速信號源，如任意波形發(fā)生器（AWG）或數據定時(shí)生成器（DTG）等。

AWG7000B系列使設計人員能夠直接開(kāi)發(fā)高速串行數據總線(xiàn)，創(chuàng )建、復制和生成理想、失真或者真實(shí)的信號，包括有噪聲、抖動(dòng)、干擾和其他異常的信號。AWG7000B 可以產(chǎn)生任何真實(shí)的波形，以及生成不良信號，或者重放實(shí)際捕獲的信號，包括信號噪音、抖動(dòng)、預加重和去加重以及高達 10-Gbits/s 的多級信號。

DTG5000系列將數據發(fā)生器和脈沖發(fā)生器的功能相結合。這些儀器能夠生成低抖動(dòng)、高精度時(shí)鐘信號，多個(gè)通道的并行或串行數據，而且能夠產(chǎn)生串行數據速率高達 3.35 Gb/s。

邏輯分析儀

泰克邏輯分析儀為驗證硬件和軟件子系統之間性能和交互作用提供了測量方式。在串行數據系統中，這通常是指物理、邏輯和傳輸層之間的交互作用。邏輯分析儀可以捕獲雙向流量，并可分析傳輸，檢測鏈路轉換和流控制。

TLA7000系列邏輯分析儀所具有的性能、觸發(fā)和解碼功能，可以簡(jiǎn)化設計驗證過(guò)程，并可對串行數據進(jìn)行解碼，恢復嵌入式時(shí)鐘以及觸發(fā)特定的數據特性。大型臺式機能夠擴展支持多個(gè)總線(xiàn)的時(shí)間相關(guān)分析。對于更多復雜的信號完整性挑戰，TLA7000 可通過(guò)使用 iView 軟件和互連硬件與泰克示波器相結合，來(lái)獲取并創(chuàng )建數字和模擬波形的時(shí)間關(guān)聯(lián)視圖。