高級搜索和標記功能完善Pinpoint觸發(fā)系統功能

波形上方顯示畫(huà)面頂部的淺綠色符號框(圖5)實(shí)際上是ASM放置的各個(gè)標記的集合，表明滿(mǎn)足搜索標準的事件。盡管波形看上去是均勻的，但ASM發(fā)現許多事件符合Glitch (毛刺)條件，這些事件從屏幕中心開(kāi)始，因為這是顯示畫(huà)面上的觸發(fā)位置，是Pinpoint觸發(fā)使用同一標準檢測到第一個(gè)毛刺的第一個(gè)點(diǎn)。

圖6.顯示畫(huà)面縮放。

在圖6中，我們使用顯示縮放更詳細地檢查其中一個(gè)標記。屏幕右面的Previous和Next導航控制功能用來(lái)選擇要查看的標記。顯示畫(huà)面上方顯示5 M樣點(diǎn)的整個(gè)采集記錄，在本例中涵蓋了100?s 的時(shí)間周期。

示波器畫(huà)面(圖6)下面的視圖顯示了以Zoom顯示區域為中心的Mark 2上的波形。它只跨越了1?s 的時(shí)長(cháng)，更詳細地顯示Mark 2周?chē)膮^域?？梢蕴岣叻糯蟊稊?，以獲得更詳細的信息；或降低放大倍數，包括更多的概況信息。在本例中，可以大體比較標記1到標記4。注意這些事件有著(zhù)明顯的周期性特點(diǎn)，這為揭示其成因提供了潛在的線(xiàn)索。

傳統硬件觸發(fā)系統一次把重點(diǎn)放在一套信號特點(diǎn)上，不包括其它條件，因此隔離大量的問(wèn)題通常要求順序通過(guò)不同的觸發(fā)類(lèi)型。泰克搜索和標記完善了Pinpoint觸發(fā)系統，其能夠同時(shí)執行多個(gè)搜索，因此能夠高效地檢測多個(gè)信號上的多個(gè)條件。

圖7.高級搜索和村記的多種搜索方法。

圖7說(shuō)明可以怎樣把ASM內部的多個(gè)搜索方法應用到一個(gè)信號上，同時(shí)搜索問(wèn)題。ASM允許同時(shí)應用最多八個(gè)搜索，因此可以在一個(gè)或多個(gè)波形上檢測大量的事件。FastAcq揭示了信號問(wèn)題，包括放錯地方的邊沿及在門(mén)限之間逗留時(shí)間太長(cháng)或從未結束的偶爾跳變。

圖8. 選擇了毛刺和窗口搜索。

在圖8中，我們從Search調色板中選擇毛刺搜索和窗口搜索，其出現在右面的表中?？梢远x及對通道1或其它通道定義和應用最多六個(gè)額外的搜索。用戶(hù)可以?huà)呙瓒鄺l通道，查找多個(gè)問(wèn)題條件，而不必重新配置。每種搜索都有獨特的設置，如可以為Ch1定義額外的毛刺

搜索，但使用不同的門(mén)限或寬度值。

圖9.窗口搜索。

使用控制功能定義窗口搜索的方式與毛刺搜索類(lèi)似。在圖9中，窗口觸發(fā)配置成捕捉進(jìn)入上下門(mén)限規定區域、且在該區域中保留5 ns以上的信號。其它形式的窗口搜索可以檢測傳送到指定區域外面的信號，如高于或低于信號正常范圍的過(guò)度過(guò)沖。