No.3 2651A吉時(shí)利產(chǎn)品新成員
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多臺2600A系列儀器連接在一個(gè)系統中，實(shí)現并行測試和精密定時(shí)。
符合LXI class C標準。
14位I/O線(xiàn)，與探針臺、元件裝卸裝置或其他自動(dòng)化工具直接交互。
USB端口，利用USB存儲裝置實(shí)現更大的數據和程序存儲空間。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/194940.htm
Part III 2651A的應用領(lǐng)域
輕松支持當今具有挑戰性的應用：
功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試
GaN、SIC及其他復合材料和器件的特性分析
半導體結溫特性分析
高速、高精度數字化
電遷移研究
大電流、大功率器件測試
1.每種測量模式下使用兩個(gè)A/D轉換器(一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于電壓)，可同時(shí)運行用于準確源讀回，不會(huì )影響測試效率。
當用于一個(gè)系統時(shí)，全部2600A系列的通道以500ns同步，實(shí)現真正的SMU-per-pin測試，主機不存在功率或通道限制。
2.將熱效應降至最小，準確特性分析半導體結溫效應
準確源出和測量短至100μs的脈沖，并且脈沖從100μs至直流、上升時(shí)間從25μs、占空比從1%至100%可編程。
捕獲快速變化現象，速率達1,000,000讀數/秒，連續1μs/點(diǎn)采樣。
3.提高試驗可靠性和可重復性
精密定時(shí)和嚴格的通道同步對當今的測試要求至關(guān)重要。2651A型具有一款高性能觸發(fā)型號，精確控制每一源測量步驟的定時(shí)。它還嚴格同步通道之間和/或其他2600A系列儀器之間的工作，采用TSP-Link，硬件速度500ns。更重要的是，SMU-per-pin測試防止測量和負載信號失真。這些功能可幫助您提高吞吐量，降低可能損壞DUT的影響，并獲得高準確度和可復現的測量結果。
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