Multisim10在負反饋放大電路實(shí)驗中的應用
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2 負反饋對帶寬的影響
對負反饋放大器和基本放大器負載開(kāi)路時(shí)的通頻帶進(jìn)行分析。單Simulate／Analysis／AC analysis(交流分析)按鈕，選擇待分析的輸出電路節點(diǎn)V可得到如圖7、圖8所示的幅頻特性曲線(xiàn)。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/187327.htm
由仿真結果可得負反饋放大器BW=2．36MHz，基本放大器BW=195．76kHz，負反饋電路對通頻帶進(jìn)行了拓寬。
3 結束語(yǔ)
運用multisim10對負反饋放大器實(shí)驗進(jìn)行仿真分析得到的結果與理論分析一致，與傳統實(shí)驗相比較具有以下優(yōu)點(diǎn)：
(1)傳統的負反饋放大器實(shí)驗是在已經(jīng)焊接好的電路板上進(jìn)行操作，負反饋支路由開(kāi)關(guān)控制，在分析基本放大器的性能參數時(shí)，只是簡(jiǎn)單地切斷反饋支路的開(kāi)關(guān)，而沒(méi)有考慮到負載效應，但通過(guò)multisim10可以清楚繪制出帶負載效應的基本放大器，有助于學(xué)生對原理的理解和正確的分析。
(2)運用Multisim10可以方便地搭建電路，改進(jìn)電路，并可以通過(guò)改變元器件的參數對電路性能指標進(jìn)行仿真，觀(guān)察不同原件參數對實(shí)驗結果的影響，并且減少在實(shí)驗過(guò)程中對元件的損耗，學(xué)生通過(guò)對仿真過(guò)程的觀(guān)察，加強對理論知識的理解和掌握。
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