開(kāi)關(guān)電源電磁兼容性問(wèn)題研究

5 結語(yǔ)

如今EMI/EMC問(wèn)題已成為開(kāi)關(guān)電源穩定工作的一個(gè)關(guān)鍵因素，也是開(kāi)關(guān)電源能否更加廣泛應用的關(guān)鍵因素。開(kāi)關(guān)電源的 EMI抑制技術(shù)在開(kāi)關(guān)電源設計中占有很重要的位置。產(chǎn)生開(kāi)關(guān)電源電磁干擾的因素很多，抑制電磁干擾還有大量的工作。全面抑制開(kāi)關(guān)電源的各種干擾會(huì )使開(kāi)關(guān)電源得到更廣泛的應用。

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作者簡(jiǎn)介

姚志樹(shù)(1978-)，男，江蘇鹽城市人，碩士，講師，研究方向為電力電子技術(shù)、電源技術(shù)?！?/span>