讓RF儀器發(fā)揮最大功效的解決方案

但是昂貴、高效能，且精確校準過(guò)的 DUT 與測試系統還不夠，針對中間用以銜接設備用的連結組件，也必須考慮其質(zhì)量與可重復性。若能提升關(guān)鍵規格達 1/10 或 1/5 的 dB，就可能達到高競爭優(yōu)勢。

對絕大部分的標準而言，最好是能達到 1：1.5 的電壓駐波比(VSWR)，但匹配(Match)的強度也可能影響錯誤的為匹配的不確定性達 +/-0.35dB (約略值)。當造成過(guò)多的不確定性時(shí)，就不可能達到 0.2 dB 的關(guān)鍵規格。

其它受到忽略的項目 (如連接線(xiàn)、切換器、衰減器、插槽、轉接器，與配件) 也能影響整體的測量結果。如果要開(kāi)始測量操作，應先達到所需的精確度，接著(zhù)選擇合適的組件。依目前公認的標準，測量系統的效能最好達到 DUT 受測參數的 10 倍之譜。

如果已經(jīng)擁有高質(zhì)量的信號路徑，則接著(zhù)就是安排完整的測量實(shí)作；使用者應確保清潔并存放連接線(xiàn)、接頭，與轉接器，就算是最高級的連接線(xiàn)與轉接器也會(huì )磨損，若零件老化就應淘汰，這些都算測試操作的耗材，并應逐步減少轉接器的使用機會(huì )。

此外應定期使用扳手與線(xiàn)路量表進(jìn)行調整，即可盡量避免熱切換(Hot-switching)；并請注意，應適時(shí)靜電放電 (Electro-static discharge，ESD)。即便于測試系統與 DUT 之間使用最高質(zhì)量的組件，若連接的零件過(guò)多，也可能造成測量錯誤。

為測量操作選用正確的工具

根據所要測量的參數與所需的精確度，其測量 DUT 的 RF 設備也有所不同。能投資設備當然最好，但如果僅能發(fā)揮設備某部分的效能，就形成預算浪費。如果僅需測量 RF 功率，則 RF 功率計當然優(yōu)于矢量信號分析儀 (VSA)。

標量(Scalar)儀器僅能測量強度 (振幅)，而矢量儀器則可測量強度與相位。就算測量操作不需相位值，則由于矢量儀器的相位信息可找出系統中的無(wú)用反射并將之量化，因此也可用以修正錯誤。

在購買(mǎi) RF 設備時(shí)，價(jià)格往往并不等同于功能。高質(zhì)量的掃頻調協(xié)頻譜分析儀(Swept-tuned spectrum analyzer)，往往就能占去大部分的預算；就該款儀器原始的測量功能而言，雖然已可達 ± 1 dB 或較差的精確度并可用于一般測量，但卻無(wú)法滿(mǎn)足絕對 RF 功率的測量需要。同樣的，若使用中的儀器可達 -140 dBm/Hz 的噪聲水平，此款儀器就難以測量 -155 dBm/Hz 噪聲水平的 DUT。

所以請為測量選擇正確的工具；若購買(mǎi)的設備效能超出所需的測量精確度太多，就浪費了成本與資源，而且可能排擠到其它部分的預算分配。在某些情況下，連接線(xiàn)與切換器甚至更有助于提升測量質(zhì)量。

開(kāi)發(fā)測量程序

一旦建構自己所需的最佳實(shí)作，就可以將其安裝到測量程序中，更有利于整個(gè)團隊的溝通，接著(zhù)就能讓 RF 測量結果達到更好的可重復性與一致性。舉例來(lái)說(shuō)，測量程序的常見(jiàn)問(wèn)題之一就是：”應多久校準 1 次”。

許多 RF 儀器對環(huán)境的變化極其敏感，因此就必須時(shí)常校準設備；高精確度的測量需求也常常影響了校準頻率。不論哪種情況，均應了解 RF 設備的校準需求，并將之列入測量程序中。

從設計、檢驗、測試，到制造的所有程序，都會(huì )影響 RF 的測量功能。使用者也需考慮制造過(guò)程所應測試并檢驗的操作參數，而可能影響精確度、可重復性，與不確定性的前/后 1 項程序 (如重新操作、焊接、組裝，與絕緣)，均應納入考慮。

若要建構良好的 RF 實(shí)作，也應考慮相關(guān)程序。也可連帶簡(jiǎn)化學(xué)習與標準化的過(guò)程。而后續從建構程序直到產(chǎn)品使用壽命，”一致性”也將影響 RF 參數與測量結果。

提高 RF 測量操作的質(zhì)量

要進(jìn)行 RF 測量操作很簡(jiǎn)單，但要能準確測量就有些許難度。若能建構完整實(shí)作并用于程序之中，將可提升 RF 測量的質(zhì)量。

還有許多方法可找出并建置最佳實(shí)作范例。應不斷設法提升 RF 測量質(zhì)量，以確實(shí)了解測量要點(diǎn)并用于實(shí)作之中。從提高 RF 測量技巧到完整發(fā)揮 RF 設備的效能，此篇技術(shù)文章所提及的步驟均屬于基礎概念而已。