使用NI軟件與PXI硬件，進(jìn)行高性能、點(diǎn)對多點(diǎn)的高級無(wú)線(xiàn)電系統自動(dòng)化測試

 

　　開(kāi)發(fā)難題

　　為了跟上產(chǎn)品開(kāi)發(fā)安排，我們必須配合產(chǎn)品開(kāi)發(fā)測試系統，因此對其中5項板卡設計作出了變更。但又因為測試系統在設計之初，已考慮到其必要規格與靈活度，所以重新設計PCB也僅需對夾具進(jìn)行1項變更。在4RF Communication與CPE systems之間保持良好的通信，并建立項目、配置管理程序之后，NI軟硬件讓我們能確保達到同步開(kāi)發(fā)。

　　測試系統的主要限制之一，就是各組板卡需要5分鐘測試時(shí)間。因此需要優(yōu)化射頻校準算法，確保達到高效率運作。 而NI PXIe-5663矢量信號分析儀(VSA)與NI PXIe-5673矢量信號生成器(VSG)均可支持算法的優(yōu)化程序。

　　Aprisa SR的PCB組件包含射頻傳輸與接收電路，且必須連帶其外殼一起測試。所以我們也需考慮并納入射頻干擾與屏蔽的情況，再篩選夾具設計。 我們以產(chǎn)品的CAD模型容納射頻屏蔽外殼，構成夾具頂板部分(圖3)。只要將板卡置于外殼之中，即可達到測試設備所研發(fā)的屏蔽功能?！　?/p>

 

　　Aprisa SR無(wú)線(xiàn)電內建數據加密功能，可產(chǎn)生仿真數據串流，以測試接收器敏感度。通過(guò)NI PXIe-5663 VNA，可讓NI PXIe-5673 VSG達到不同級別的無(wú)線(xiàn)電信號記錄與重復傳輸，再以實(shí)際數據測試接收器的敏感度。此方式也代表未來(lái)無(wú)需變更測試系統的軟件，即可改變加密程序。

　　NI軟硬件的關(guān)鍵作用

　　開(kāi)發(fā)射頻測試系統也包含管理程序的難題。除了需跨多個(gè)地點(diǎn)協(xié)調項目之外，也必須以高速測試復雜的射頻產(chǎn)品，并讓設備具備屏蔽功能。

　　NI軟硬件平臺的功能與靈活性，可幫助我們有效開(kāi)發(fā)高度穩定的測試系統、滿(mǎn)足4RF公司的所有需求，并能確保配合產(chǎn)品上市時(shí)間。 最終我們擁有了低價(jià)位的自定義測試系統，它能夠測試并支持新款的高性能SCADA無(wú)線(xiàn)電產(chǎn)品的制造程序?！　?/p>