使用NI LabVIEW對手機LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測試

　　LCD屏幕測試

　　我們使用數字I/O卡與LCD屏幕驅動(dòng)進(jìn)行連接通信，并在LCD屏幕上生成不同的測試圖案。每個(gè)測試圖案產(chǎn)生后，連接至PCI-1411圖像采集卡的Pulnix模擬相機就會(huì )捕捉LCD屏幕上的圖像。圖案生成，LCD屏幕圖像捕捉，和兩者之間的同步均是由LabVIEW和NI TestStand編寫(xiě)的模塊實(shí)現的。我們設計NI顯示測試系統來(lái)測試平面顯示元件;這對于LCD屏幕測試堪稱(chēng)是一個(gè)完美的解決方案。捕捉到的圖像經(jīng)由NI顯示測試系統處理，以檢測生成的圖案中所有可能存在的問(wèn)題。它包括逐像素點(diǎn)的驗證以及復雜圖標的顯示。NI顯示測試系統使得LCD屏幕測試變得輕松并且幫助我們在兩周內就完成了整個(gè)測試系統的搭建。

　　其他測試

　　下列所有其他的測試都是基于一塊連接到SCC系列便攜式、模塊化信號調理模塊的板卡(NI PCI-6040E多功能數據采集卡)完成的。

　　1.實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池測試：我們將電池的兩極連至板卡的一個(gè)模擬輸入端，通過(guò)測量電池兩極的電壓來(lái)對實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池進(jìn)行測試，由此我們可以來(lái)檢驗電池的不足。

　　2. 揚聲器性能測試：為了對揚聲器進(jìn)行測試，我們在揚聲器附近一個(gè)合適的位置放置了一個(gè)麥克風(fēng)，以收集揚聲器的響應。來(lái)自揚聲器的輸入信號經(jīng)過(guò)了SCC-ICP01，它是一個(gè)SCC信號調理模塊，它可以對麥克風(fēng)信號進(jìn)行濾波并進(jìn)行適當的信號調理。LabVIEW從數據采集卡模擬輸出一個(gè)多重音頻信號，并送至揚聲器。而來(lái)自麥克風(fēng)的輸入信號連接至數據采集卡的一個(gè)模擬輸入通道進(jìn)行采集，以檢查揚聲器在不同頻率下的響應情況。同時(shí)將產(chǎn)生一個(gè)1KHz的標準的正弦波，并傳送至揚聲器，并分析其產(chǎn)生的失真，LabVIEW將從獲取的波形中計算諧波失真總量。這個(gè)測試只是用到了一個(gè)簡(jiǎn)單的模擬輸出，一個(gè)模擬輸入和SCC信號調理模塊，避免了采用昂貴的帶有測聲計和發(fā)聲源的動(dòng)態(tài)信號分析儀。

　　3. 揚聲器阻抗測試：使用SCC-RTD01，一個(gè)SCC信號調理模塊，為揚聲器輸出恒定電流，通過(guò)測量電壓來(lái)測試揚聲器的阻抗。通過(guò)對SCC繼電器模塊，SCC-RLY進(jìn)行編程，可以實(shí)現揚聲器響應測試和阻抗測試的連接切換。

　　4. 感應磁鐵測試：感應磁鐵用于在手機蓋翻開(kāi)時(shí)，自動(dòng)打開(kāi)背光燈。它將使用霍爾效應傳感器和一個(gè)模擬輸入通道進(jìn)行測試。

　　5. 背光燈測試：背光燈的測試由LCD屏幕測試時(shí)LCD屏幕產(chǎn)生的電流消耗量所決定，它將檢驗背光燈是否合格。

　　LCD測試系統

　　我們使用LabVIEW開(kāi)發(fā)LCD測試系統，使用NI TestStand執行并同步所有的上述測試。只要有可能，我們就并行地進(jìn)行測試，以節省測試總時(shí)間。

　　測試夾具

　　測試夾具的要求非常復雜，它需要與小型帶狀連接器相連，但又不能損壞已裝配好LCD屏幕的手機蓋?？蛻?hù)的工程師設計出一種巧妙的測試夾具，通過(guò)對相機，光源和鏡面的組合排布，以獲取測試系統所需的最佳圖像。該測試夾具可以描述為，操作員將手機的正面朝下，放入一個(gè)封閉的盒子，LCD屏幕將由盒子內部的鏡子反射至相機，并發(fā)出合適的亮度。

　　操作員將手機放入測試夾具并加以固定，然后通過(guò)用戶(hù)界面交互操作來(lái)開(kāi)始測試。NI TestStand測試序列和LabVIEW程序將執行手機上所有的測試，并彈出測試結果。如果測試失敗，則將產(chǎn)生一個(gè)針對特定部件的錯誤代碼，以便返修后對該部件進(jìn)行進(jìn)一步追蹤。如果部件在某一個(gè)測試中失敗了，則在其他測試完成前，該部件都將因此被拒絕測試，以節省測試時(shí)間。

　　軟件模塊

　　上述系統所需的測試將由一組主要的測試模塊來(lái)完成，該測試模塊結合NI TestStand 和NI顯示測試系統完成LCD屏幕測試，執行并同步所有其他的測試。我們盡可能進(jìn)行并行測試以節省總測試時(shí)間。每次都會(huì )根據切換和日期變化，為用戶(hù)生成測試報告，詳細說(shuō)明組件未通過(guò)測試的原因和數值，以作進(jìn)一步使用。

　　測試系統還能生成切換報告，追蹤所有發(fā)生問(wèn)題的組件，并提供測試系統的利用系數。所有生成的報告都被儲存在PXI系統的硬盤(pán)中。報表模塊允許用戶(hù)檢查并打印任意切換、任意時(shí)間段的歷史報告。我們還能根據客戶(hù)要求，提供未通過(guò)測試元件的統計圖和其他統計參數。

　　自動(dòng)化手機測試系統的主要特點(diǎn)

• 完全自動(dòng)化的系統
• 在一個(gè)系統中完美集成所有的功能測試
• 具備高可靠性，靈活性和開(kāi)放性，能滿(mǎn)足新測試的進(jìn)一步調整或合并需求
• 連續生產(chǎn)能力(分為三組八小時(shí)的工時(shí)，一周六天)
• 減少測試時(shí)間(每個(gè)元件減少約12秒，縮減幅度達到300%)

　　我們根據虛擬儀器的概念搭建了測試系統。通過(guò)選用美國國家儀器公司現成可用的硬件模塊，并結合使用LabVIEW和NI TestStand編寫(xiě)應用程序，我們在12天的時(shí)間內完成了功能測試系統的搭建，這遠遠超出了客戶(hù)的期望。