使用LabVIEW和FPGA創(chuàng )建微控制器測試系統

　　在整個(gè)框架上，我們節省了大量的時(shí)間和成本。在此之前，對于微控制器的每個(gè)模塊/外設，測試十至二十個(gè)案例我們需要花費四至五個(gè)小時(shí)。使用我們所創(chuàng )建的基于NI 產(chǎn)品的系統，相同的一組測試執行時(shí)間在十到十五分鐘內，而且測試質(zhì)量顯著(zhù)地提高。

　　我們需要合適的測試平臺應用程序以測試微控制器的不同外設。比如，為了測試SPI接口，我們需要建立SPI主機或者從機作為測試平臺。我們使用LabVIEW FPGA VIs(CAN接口的CAN VI) 來(lái)創(chuàng )建每個(gè)測試平臺?？蚣軆葴y試案例構造則是指各自的VI。

　　在框架中，我們可以創(chuàng )建一個(gè)LabVIEW對象以獲取VI引用，對于每個(gè)測試案例的需求，都為用戶(hù)配置了輸入控件和顯示控件。執行自動(dòng)化框架中的測試案例，需要調用特定的VI，配置該VI，最后運行它。

　　該框架無(wú)需用戶(hù)參與就可以執行測試。比如，測量PWM信號的解決方案如下：VI測量占空比和信號頻率，然后將其保存到Excel文件中。

　　另一種解決方案涉及從SPI主機接收數據。作為從機SPI 的VI 可以從主機測試設備(DUT)中接收數據。SPI從機工作在不同的波特率和變化的數據比特下。用戶(hù)可以配置VI,而其運行取決于測試設備(DUT)的主SPI的配置。

　　然而，還有一種解決方案涉及產(chǎn)生所需的脈沖個(gè)數以測試捕獲和計數模塊。VI可以產(chǎn)生在上升沿或者下降沿觸發(fā)的脈沖。在VI運行時(shí)，用戶(hù)可以配置VI以產(chǎn)生所需個(gè)數的脈沖。

　　結論

　　使用NI公司的產(chǎn)品，我們可以使用一套軟硬件解決方案，輕而易舉地測試不同的微控制器外設。我們使用NI的產(chǎn)品，通過(guò)向自動(dòng)化框架提供易用的接口，使我們的測試系統自動(dòng)化，這樣節省了大量的精力和成本。