咱的納米有幾 安(A)、伏(V)?(下)

　　圖1. 吉時(shí)利4200-PIV測試系統的原理圖

　　利用這種工具套件，研究人員可以同時(shí)進(jìn)行直流和脈沖IV測試以掌握器件特性，例如如圖2所示的FET器件系列特征曲線(xiàn)。

　　圖2. 一系列FET曲線(xiàn)的脈沖I-V與直流I-V特征分析

　　對于具有較大電阻幅值變化的各種導電材料或器件，用戶(hù)利用吉時(shí)利的6221/2182A組合可以設置最佳的脈沖電流幅值、脈沖間隔、脈沖寬度和其它一些脈沖參數，從而最大限度降低了DUT上的功耗。6221能夠在全量程上產(chǎn)生具有微秒級上升時(shí)間的短脈沖(減少了熱功耗)。6221/2182A組合能夠實(shí)現脈沖和測量同步——可以在6221加載脈沖之后的16μs內開(kāi)始測量。整個(gè)脈沖，包括一次完整的納伏測量一起，可以短達50μs。6221和2182A之間的行同步也消除了與電源線(xiàn)相關(guān)的噪聲。

　　最后，吉時(shí)利的3400系列脈沖/碼型發(fā)生器為廣大納米技術(shù)研究者提供了處理各種應用需求的靈活性。用戶(hù)可以設置脈沖參數，例如幅值、上升和下降時(shí)間、脈沖寬度和占空比，可以選擇多種操作模式，包括用于材料和器件特征分析的脈沖與猝發(fā)模式。其簡(jiǎn)潔的用戶(hù)界面加快了學(xué)習曲線(xiàn)的建立過(guò)程，相比同類(lèi)產(chǎn)品能夠使用戶(hù)更快地設置和執行測試操作。

　　結束語(yǔ)：

　　脈沖測試為人們和研究納米材料、納米電子和目前的半導體器件提供了一種重要手段。在加電壓脈沖的同時(shí)測量直流電流是電荷泵的基本原理，這對于測量半導體和納米材料的固有電荷俘獲特性是很重要的。施加電流脈沖同時(shí)測量電壓使研究人員能夠對下一代器件進(jìn)行低電阻測量或者進(jìn)行I-V特征分析，同時(shí)保護這些寶貴的器件不受損壞。