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test workflow 文章進(jìn)入test workflow技術(shù)社區

基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)

挑戰：通過(guò)PXI 控制板卡和LabVIEW軟件，構建一套比較完整齊全的PCB板的功能測試(FCT)系統，利用該系統可實(shí)現對音頻視頻以及各種靜態(tài)參數（電壓、電流、頻率）的綜合性全自動(dòng)測試，對于新開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的PCB板，工廠(chǎng)無(wú)需頻
關(guān)鍵字： Functional LabVIEW Circuit Test

科利登系統有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測試獎）獎項。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費類(lèi)芯片測試系統。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
關(guān)鍵字： Award Best in Test 測試與測量世界科利登測試測量

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