EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
tessent in-system test
tessent in-system test 文章 進(jìn)入tessent in-system test技術(shù)社區
基于SYSTEM C的FPGA設計方法
- 一、概述 隨著(zhù)VLSI的集成度越來(lái)越高，設計也越趨復雜。一個(gè)系統的設計往往不僅需要硬件設計人員的參與，也需要有軟件設計人員的參與。軟件設計人員與硬件設計人員之間的相互協(xié)調就變的格外重要，它直接關(guān)系到工作的效率以及整個(gè)系統設計的成敗。傳統的設計方法沒(méi)有使軟件設計工作與硬件設計工作協(xié)調一致，而是將兩者的工作割裂開(kāi)來(lái)。軟件算法的設計人員在系統設計后期不能為硬件設計人員的設計提供任何的幫助。同時(shí)現在有些大規模集成電路設計中往往帶有DSP Core或其它CPU Core。這些都使得單
- 關(guān)鍵字： C FPGA SYSTEM 單片機 嵌入式系統
tessent in-system test介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條tessent in-system test!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對tessent in-system test的理解，并與今后在此搜索tessent in-system test的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對tessent in-system test的理解，并與今后在此搜索tessent in-system test的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
tessent in-system test電路
tessent in-system test相關(guān)帖子
tessent in-system test資料下載
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473