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pcie測試 文章 進(jìn)入pcie測試技術(shù)社區
加快洞見(jiàn)能力等多重需求推動(dòng)，全新裕度測試解決方案重塑PCIe測試
- 自從PCIe 1.0規范以來(lái)，在不到20年里，業(yè)界已經(jīng)為迎接PCIe Gen 6.0規范作好準備。由于每一代新標準較上一代的數據速率都會(huì )翻一番，PCIe Gen 6.0的速度要比2003年問(wèn)世的最初PCIe Gen 1.0規范快25倍。數據速率每三年翻一番，給負責物理層性能的驗證工程師帶來(lái)了無(wú)盡的挑戰，包括PHY、芯片、插件和系統，因為當前市場(chǎng)上的測試設備并不能完全滿(mǎn)足所有這些器件的測試需求。關(guān)鍵電氣驗證設備的性能不斷提高，比如示波器和誤碼率測試儀(BERT)，盡管可以解決絕大部分挑戰，但性能的提高也影響
- 關(guān)鍵字： 全新裕度測試 PCIe測試
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