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【系統解析】LTE測試的難點(diǎn)
- 【系統解析】LTE測試的難點(diǎn)-測試技術(shù)是LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán),面對LTE產(chǎn)業(yè)多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代復雜的網(wǎng)絡(luò )環(huán)境,LTE測試還有哪些測試難點(diǎn)待解?
- 關(guān)鍵字: TD-LTE終端 MIMO系統 LTE產(chǎn)業(yè) LTE測試
用于MIMO系統的三頻段天線(xiàn)陣設計
- 每天都有新的用戶(hù)對服務(wù)和數據傳輸速度提出新的要求。多頻天線(xiàn)的發(fā)展已成為擴展手機性能的一種通用方法...
- 關(guān)鍵字: MIMO系統 三頻段 天線(xiàn)陣設計
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mimo系統介紹
下一代移動(dòng)通信系統必須具有更高的傳輸速率和更好的傳輸性能,需要更高網(wǎng)絡(luò )容量和更高無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )性能的需求。多輸入多輸出(MIMO)系統能極大地改善頻譜效率,因此MIMO將在很多未來(lái)的無(wú)線(xiàn)通信系統中扮演重要角色?! ∈街?,γ=P/σ2為發(fā)送端的總功率P與每個(gè)接收天線(xiàn)的噪聲方差的比值,也就是每根接收天線(xiàn)端的平均信噪比。對于nR×nT矩陣H,秩的最大值為m=min(nR,nT),也就是說(shuō),至多 [ 查看詳細 ]
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