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多核環(huán)境中的高效率調試方法
- 毫無(wú)疑問(wèn)，多核多線(xiàn)程是未來(lái)處理器的發(fā)展方向?；厥滋幚砥鞯陌l(fā)展歷程，并行技術(shù)從指令級的超標量發(fā)展到線(xiàn)程級的超線(xiàn)程或者并發(fā)多線(xiàn)程，再到今天處理器級的多內核，總的趨勢都沒(méi)有改變。英特爾、Sun和IBM等大公司目前已經(jīng)投身到多核或者多線(xiàn)程技術(shù)的浪潮之中。當今的網(wǎng)絡(luò )應用日趨復雜，對性能的要求不斷提高，無(wú)論是需求推動(dòng)技術(shù)，還是技術(shù)激發(fā)了新的需求，并行技術(shù)都將是未來(lái)信息基礎設施建設的必然選擇。 對于嵌入式裝置而言，多核技術(shù)可以提供更高的處理器性能、更有效的電源利用率，并且占用更少的物理空間，因而具有許多單
- 關(guān)鍵字： 多核 嵌入式系統 JTAG調試
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