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jtag技術(shù)嵌入式系統電路特性測
jtag技術(shù)嵌入式系統電路特性測 文章 進(jìn)入jtag技術(shù)嵌入式系統電路特性測技術(shù)社區
滿(mǎn)足嵌入式系統電路特性測試需求的JTAG技術(shù)
- 引言IEEE1149.1邊界掃描測試標準(通常稱(chēng)為JTAG、1149.1或dot1)是一種用來(lái)進(jìn)行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法，大多數復雜電子系統都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這...
- 關(guān)鍵字： JTAG技術(shù)嵌入式系統電路特性測
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jtag技術(shù)嵌入式系統電路特性測介紹
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歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對jtag技術(shù)嵌入式系統電路特性測的理解，并與今后在此搜索jtag技術(shù)嵌入式系統電路特性測的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
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