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IC測試原理解析(第四部分—射頻/無(wú)線(xiàn)芯片測試基礎)
- 芯片測試原理討論在芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應用，第三章介紹了混合信號芯片的測試。本文將介紹射頻/無(wú)線(xiàn)芯片的測試。
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ic測試原理介紹
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