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emc與si測試
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EMC（RE）和SI的矛盾點(diǎn)——高速信號上升沿陡峭性
- 高速信號的上升沿陡峭性確實(shí)是RE和SI之間矛盾的核心點(diǎn)之一，特別是在高頻電路和高速數字信號設計中。這種矛盾主要體現在信號完整性（SI）與輻射發(fā)射（RE）的對立需求上：1.?上升沿陡峭與SI/RE的關(guān)系上升沿越陡峭：SI（信號完整性）變好：上升沿的陡峭性決定了信號的帶寬。更快的上升沿意味著(zhù)更高的頻率分量參與信號的傳輸，從而更好地還原數字信號的形態(tài)（如方波的高對比邊緣），提高接收端的解碼準確性。RE（輻射發(fā)射）變差：上升沿越陡峭，信號中的高頻分量越多，這些高頻分量容易通過(guò)傳輸線(xiàn)、連接器和PCB走線(xiàn)輻
- 關(guān)鍵字： 仿真分析 EMC與SI測試 電磁輻射
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emc與si測試介紹
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