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驗證及測試論壇”
驗證及測試論壇” 文章 進(jìn)入驗證及測試論壇”技術(shù)社區
NI主辦第三屆“設計、驗證及測試論壇”
- 美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）于9月底在北京成功主辦第三屆“設計、驗證及測試論壇”（Design Validation and Test Forum，即DVTF 2006）。本屆DVTF是繼2004和2005年之后，NI連續第三年在中國地區成功地舉辦這一活動(dòng)，并且DVTF的品牌業(yè)已在行業(yè)用戶(hù)和媒體間確立了相當的知名度。 本屆論壇以一場(chǎng)形式新穎的主題演講開(kāi)始，并分為“自動(dòng)化測試”和“嵌入式系統設計”兩
- 關(guān)鍵字： “設計 NI 測量 測試 第三屆 驗證及測試論壇” 測試測量
NI 中國成功舉辦第二屆“設計、驗證及測試論壇”
- 新聞發(fā)布——2005年5月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）于4月在上海國際會(huì )議中心成功主辦第二屆“設計、驗證及測試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主題為“測試緊跟設計的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾500位工程師、技術(shù)人員和院校教師參與此次盛會(huì )，其中97.1%的來(lái)賓表示“此次活動(dòng)對他們的工作有所幫助”，70%將會(huì )推薦他們的同事參加明年的“設計、驗證及測試論壇”
- 關(guān)鍵字： “設計 驗證及測試論壇” 測試測量
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驗證及測試論壇”介紹
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