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靜電測試
靜電測試 文章 進(jìn)入靜電測試技術(shù)社區
USB接口的EMC設計
- 在提到干擾對USB的影響時(shí)，差分數據傳輸與簡(jiǎn)單的同軸電纜相比具有很大的優(yōu)勢。在感性干擾效應(磁場(chǎng))情況下，導線(xiàn)的絞合可以彌補干擾效應?！馯SB控制器的輸入/輸出不是完全對稱(chēng)的，因此USB信號顯示出共模干擾?！馤ayout與HF/EMC不兼容，寄生電容和缺少波阻匹配會(huì )產(chǎn)生共模干擾?！耠娐吩O計(USB濾波器)不充分，濾波器影響信號質(zhì)量，和/或插損太低?！窠涌谠O計(插座，外殼)不充分。不良的接地會(huì )減小電纜的屏蔽衰耗。濾波器具有不良的接地參考?！馯SB電纜不對稱(chēng)、屏蔽不良以及沒(méi)有足夠好的接地。這種電纜會(huì )劣化信號質(zhì)
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DCDC導致EMI輻射超標整改案例分享
- 分享一個(gè)EMI整改文檔，對于EMC來(lái)說(shuō)，接觸的案例越多，整改的成功率就越高，整改的方法也越多，從案例中吸取教訓，總結經(jīng)驗，避免設計中出現同樣的問(wèn)題。注意：按照文檔描述，從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右，這兩個(gè)頻點(diǎn)的功率非常高，可能該產(chǎn)品是一款無(wú)線(xiàn)產(chǎn)品，對于主頻--有意輻射頻率來(lái)說(shuō)是有豁免權的，所以只需要注意200MHz之前的頻段，由于頻譜超標帶寬較寬，可以肯定非時(shí)鐘、晶振輻射超標引起，幾乎肯定輻射源在電源了，不過(guò)最后的結果，電源部分雖然PASS了，但是后面又引起了其他的頻點(diǎn)
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讓EMC整改，有跡可循
- EMC是一個(gè)棘手的問(wèn)題，下面這個(gè)文章一定值得你看，從源頭解決問(wèn)題才是真正的解決問(wèn)題。首先看定義，定義主要按照問(wèn)題性質(zhì)，分為電源、時(shí)鐘CLK問(wèn)題、地不平衡問(wèn)題。再看原因分析：針對三種問(wèn)題，小編都有舉例分析。先看電源問(wèn)題：1、排查手段2、問(wèn)題分析一般電源問(wèn)題為DC-DC電路器件（DC-DC芯片、電感、二極管）選型問(wèn)題：一般電源問(wèn)題為DC-DC PCB部分設計不合理問(wèn)題：3、根源再看時(shí)鐘問(wèn)題：解決思路中的傳統方案傳統手段：硬件擴頻：解決思路中的更換方案：地不平衡問(wèn)題:最后，分析思路：EMC三大規律規律一：EMC
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EMC之靜電整改
- 電子產(chǎn)品如手機，智能手表，TWS耳機在認證時(shí)往往需要做靜電測試，測試過(guò)程出現不可恢復的故障，或整機復位重啟。問(wèn)題詳細描述某智能手表在靜電測試時(shí)，打充電輸入端子的接觸±4KV出現系統復位，甚至概率性卡死，長(cháng)時(shí)間不能恢復。充電端子在bottom層，板子為四層一階。問(wèn)題具體分析1、分析如下：經(jīng)過(guò)對PCB的研究發(fā)現，在充電彈片和正極充電路徑下方的相鄰層信號線(xiàn)過(guò)多，沒(méi)有完整的地來(lái)釋放靜電，并有高速的flash信號經(jīng)過(guò)。當靜電打進(jìn)來(lái)時(shí)，靜電瞬間干擾到信號走線(xiàn)，靜電管還來(lái)不及釋放靜電，導致系統異常。第四層(bottom
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汽車(chē)電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測試上的差異
- 汽車(chē)電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測試對比靜電放電是一種自然現象，當兩種不同介電強度的材料相互摩擦時(shí)，就會(huì )產(chǎn)...
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汽車(chē)電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測試上的差異
- 中心議題： 汽車(chē)電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測試對比 靜電放電是一種自然現象，當兩種不同介電強度的材料相互摩擦時(shí)，就會(huì )產(chǎn)生靜電電荷，當其中一種材料上的靜電電荷累計到一定程度，在與另外一個(gè)物體接觸時(shí)，就會(huì )通過(guò)這個(gè)物體將電荷導入大地從而進(jìn)行放電。靜電放電及其影響是我們在電磁兼容領(lǐng)域(EMC)所關(guān)心的重要一點(diǎn)。 靜電問(wèn)題對電子設備來(lái)說(shuō)是必須考慮和預防的。為了防止電子設備在靜電干擾時(shí)出現產(chǎn)生不必要的誤動(dòng)作，因此各個(gè)國家、各
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靜電測試介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條靜電測試!
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